Подробное описание документа

Валиев Р. З., Вергазов А. Н., Герцман В. Ю.
Кристаллогеометрический анализ межкристаллитных границ в практике электронной микроскопии : монография / Валиев Р. З., Вергазов А. Н., Герцман В. Ю. ; Академия наук СССР, Институт проблем сверхпластичности металлов. - М. : Наука, 1991. - 230 с. : рис., табл., граф. - Библиогр.: с. 221-225. - ISBN 5-02-000195-3.

УДК
548:537.533.35

Предметные рубрики

Кристаллы - Электронная микроскопия

Общее кол-во в фондах
1 экз.

Заказать в читальный зал

Вы можете получить данный документ в одном из следующих отделов

Преподавательский абонемент ауд.313, ГУК, ауд. 313
Читальный зал ауд.313, ГУК, ауд. 313