Расширенный поиск

   Методы двухкристальной рентгеновской дифрактометрии и топографии в анализе реальной структуры кристаллов / Романов Д. А., Прохоров И. А., Волошин А. Э., Косушкин В. Г., Большаков А. П., Ральченко В. Г. // Поверхность: рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2020. - № 11. - С. 3-11.

   Особенности распределения и релаксации упругих напряжений в гомоэпитаксиальных CVD-пленках германия и алмаза / Прохоров И. А., Волошин А. Э., Романов Д. А., Большаков А. П., Ральченко В. Г. // Кристаллография. - 2019. - Т. 64, № 3. - С. 369-374.

   Рентгенодифракционная характеризация эпитаксиальных cvd-пленок алмаза c природным и модифицированным изотопическим составом / Прохоров И. А., Волошин А. Е., Ральченко В. Г., Большаков А. П., Романов Д. А., Хомич А. А., Созонтов Е. А. // Кристаллография. - 2016. - Т. 61, № 6. - С. 945-952.