Подробное описание документа

   Методы двухкристальной рентгеновской дифрактометрии и топографии в анализе реальной структуры кристаллов / Романов Д. А., Прохоров И. А., Волошин А. Э., Косушкин В. Г., Большаков А. П., Ральченко В. Г. // Поверхность: рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2020. - № 11. - С. 3-11.

УДК

548.734 Рентгенографические методы

Авторы МГТУ

• Романов Даниил Андреевич
• Прохоров Игорь Алексеевич
• Косушкин Виктор Григорьевич

Статья опубликована в следующих изданиях