103 записи
Алексеев С. В., Таубин М. Л., Ясколко А. А.
Нанокомпозиты в рентгеновской технике : [монография] / Алексеев С. В., Таубин М. Л., Ясколко А. А. - М. : Техносфера, 2014. - 204 с. : ил. - Библиогр.:с. 14-15, в конце глав . - ISBN 978-5-94836-379-0 .
Нанокомпозиты в рентгеновской технике : [монография] / Алексеев С. В., Таубин М. Л., Ясколко А. А. - М. : Техносфера, 2014. - 204 с. : ил. - Библиогр.:
Альфорд Т. Л., Фельдман Л. К., Майер Дж. В.
Фундаментальные основы анализа нанопленок / Альфорд Т. Л., Фельдман Л. К., Майер Дж. В. ; МГУ им. М. В. Ломоносова. Науч. -образоват. центр по нанотехнологиям ; пер. с англ. Образцов А. Н., Долганов М. А. ; науч. ред. Образцов А. Н. - М. : Научный мир, 2012. - 390 с. : ил. - (Фундаментальные основы нанотехнологий: лучшие зарубежные учебники). - Библиогр.в конце гл. - ISBN 978-5-91522-225-9 .
Фундаментальные основы анализа нанопленок / Альфорд Т. Л., Фельдман Л. К., Майер Дж. В. ; МГУ им. М. В. Ломоносова. Науч. -образоват. центр по нанотехнологиям ; пер. с англ. Образцов А. Н., Долганов М. А. ; науч. ред. Образцов А. Н. - М. : Научный мир, 2012. - 390 с. : ил. - (Фундаментальные основы нанотехнологий: лучшие зарубежные учебники). - Библиогр.
Андриевский Р. А.
Основы наноструктурного материаловедения. Возможности и проблемы : [монография] / Андриевский Р. А. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2012. - 251 с. : ил. - (Нанотехнологии). - Библиогр.:с. 7-8, 15-16, 242, 250-251, в конце гл. - ISBN 978-5-9963-0622-0 .
Основы наноструктурного материаловедения. Возможности и проблемы : [монография] / Андриевский Р. А. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2012. - 251 с. : ил. - (Нанотехнологии). - Библиогр.:
Андриевский Р. А.
Основы наноструктурного материаловедения. Возможности и проблемы : [монография] / Андриевский Р. А. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2014. - 251 с. : ил. - (Нанотехнологии). - Библиогр.:с. 7-8, 15-16, в конце глав, прил. - ISBN 978-5-9963-0622-0 .
Основы наноструктурного материаловедения. Возможности и проблемы : [монография] / Андриевский Р. А. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2014. - 251 с. : ил. - (Нанотехнологии). - Библиогр.:
Андриевский Р. А.
Основы наноструктурного материаловедения. Возможности и проблемы : [монография] / Андриевский Р. А. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2017. - 251 с. : ил. - (Нанотехнологии). - Библиогр.:с. 7-8, 15-16, в конце глав, прил. - ISBN 978-5-9963-0622-0 .
Основы наноструктурного материаловедения. Возможности и проблемы : [монография] / Андриевский Р. А. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2017. - 251 с. : ил. - (Нанотехнологии). - Библиогр.:
Баимова Ю. А., Мулюков Р. Р.
Графен, нанотрубки и другие углеродные наноструктуры : монография / Баимова Ю. А., Мулюков Р. Р. ; РАН. - М. : Изд-во РАН, 2018. - 210 с. : ил. - Библиогр.:с. 191-211 . - ISBN 978-5-907036-36-9 .
Графен, нанотрубки и другие углеродные наноструктуры : монография / Баимова Ю. А., Мулюков Р. Р. ; РАН. - М. : Изд-во РАН, 2018. - 210 с. : ил. - Библиогр.:
Белянин А. Ф., Самойлович М. И.
Наноматериалы / Белянин А. Ф., Самойлович М. И. ; Центральный научно-исследовательский технологический ин-т. - М. : Техномаш, 2008.
Ч. 4 : Тонкие пленки как наноструктурированные системы. - 2008. - 254 с. : ил. - Библиогр.:с. 231-247 . - ISBN 978-5-902740-13-1 .
Наноматериалы / Белянин А. Ф., Самойлович М. И. ; Центральный научно-исследовательский технологический ин-т. - М. : Техномаш, 2008.
Ч. 4 : Тонкие пленки как наноструктурированные системы. - 2008. - 254 с. : ил. - Библиогр.:
Бочкарев А. А., Полякова В. И.
Процессы формирования микро-и нанодисперсных систем : [монография] / Бочкарев А. А., Полякова В. И. ; РАН, Ин-т теплофизики им. С. С. Кутателадзе ; отв. ред. Ребров А. К. - Новосибирск : Изд-во СО РАН, 2010. - 461 с. : ил. - Библиогр.в конце гл. - ISBN 978-5-7692-1126-3 .
Процессы формирования микро-и нанодисперсных систем : [монография] / Бочкарев А. А., Полякова В. И. ; РАН, Ин-т теплофизики им. С. С. Кутателадзе ; отв. ред. Ребров А. К. - Новосибирск : Изд-во СО РАН, 2010. - 461 с. : ил. - Библиогр.
Быков Ю. А., Карпухин С. Д., Полянский В. М.
Определение твердости нанопокрытий : учеб. пособие по курсу "Современные методы исследования структуры материалов" / Быков Ю. А., Карпухин С. Д., Полянский В. М. ; ред. Быков Ю. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2010. - 31 с. : ил. - Библиогр.:с. 31 .
Определение твердости нанопокрытий : учеб. пособие по курсу "Современные методы исследования структуры материалов" / Быков Ю. А., Карпухин С. Д., Полянский В. М. ; ред. Быков Ю. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2010. - 31 с. : ил. - Библиогр.:
Валянский С. И., Наими Е. К.
Современные методы исследования наноструктур. Метод оптической поверхностно-плазмонной микроскопии : учеб. пособие / Валянский С. И., Наими Е. К. ; ред. Капуткин Д. Е. ; Министерство образования и науки РФ, Нац. исслед. технол. ун-т "МИСиС", Кафедра физики. - М. : Издат. Дом МИСиС, 2011. - 172 с. : ил. - Библиогр.:с. 152-159 . - ISBN 978-5-87623-460-5 .
Современные методы исследования наноструктур. Метод оптической поверхностно-плазмонной микроскопии : учеб. пособие / Валянский С. И., Наими Е. К. ; ред. Капуткин Д. Е. ; Министерство образования и науки РФ, Нац. исслед. технол. ун-т "МИСиС", Кафедра физики. - М. : Издат. Дом МИСиС, 2011. - 172 с. : ил. - Библиогр.: