Подробное описание документа

Валянский С. И., Наими Е. К.
   Современные методы исследования наноструктур. Метод оптической поверхностно-плазмонной микроскопии : учеб. пособие / Валянский С. И., Наими Е. К. ; ред. Капуткин Д. Е. ; Министерство образования и науки РФ, Нац. исслед. технол. ун-т "МИСиС", Кафедра физики. - М. : Издат. Дом МИСиС, 2011. - 172 с. : ил. - Библиогр.: с. 152-159. - ISBN 978-5-87623-460-5.

IPR SMART

Войти и читать

https://www.iprbookshop.ru/117324.html

Настоящее пособие является первым из планируемых учебных пособий под общим названием "Современные методы исследования наноструктур". Цель данного пособия - дать представление о бурно развивающемся в последнее время методе исследования вещества с помощью поверхностных плазмон-поляритонных волн и, в частности, о методе оптической поверхностно-плазмонной микроскопии. Рассмотрены вопросы теории взаимодействия электромагнитных волн с веществом (нормальная и аномальная дисперсия), условия возбуждения и распространения поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ) на границе раздела металл - диэлектрик, дисперсионное соотношение для ПЭВ, различные типы ПЭВ. Описаны существующие методы получения и регистрации ПЭВ. Приведены многочисленные примеры применения поверхностного плазмонного резонанса (ППР), в том числе: определение оптических характеристик металлов с помощью ПЭВ, оптический микроскоп на поверхностных плазмонах, ППР-спектроскопия биомолекул, сенсорные устройства и др. Дается представление о новом классе материалов - метаматериалах и возможностях их применения (суперлинза, фотонные кристаллы). Очерчены направления развития новых отраслей науки и техники, таких как нанофотоника и плазмоника.
Содержание пособия соответствует учебной программе курса "Наноматериалы"
Предназначено для самостоятельной работы студентов магистратуры и аспирантов, обучающихся по направлениям 150100 (Металлургия) и 210602 (Электроника и наноэлектроника).