Личный кабинет
1 запись
Статья
Арефьев А. П., Толстогузов В. Л.
Субдифракционный метод обнаружения и измерения размеров микрочастиц / Арефьев А. П., Толстогузов В. Л. // Системы управления полным жизненным циклом высокотехнологичной продукции в машиностроении: новые источники роста : материалы III Всероссийской научно-практической конф., Москва, 6 октября 2020 г. / МГТУ им. Н. Э. Баумана (Нац. исслед. ун-т). - М., 2020. -С. 45-50 .
Субдифракционный метод обнаружения и измерения размеров микрочастиц / Арефьев А. П., Толстогузов В. Л. // Системы управления полным жизненным циклом высокотехнологичной продукции в машиностроении: новые источники роста : материалы III Всероссийской научно-практической конф., Москва, 6 октября 2020 г. / МГТУ им. Н. Э. Баумана (Нац. исслед. ун-т). - М., 2020. -
