Подробное описание документа

Статья

Арефьев А. П., Толстогузов В. Л.
Субдифракционный метод обнаружения и измерения размеров микрочастиц / Арефьев А. П., Толстогузов В. Л. // Системы управления полным жизненным циклом высокотехнологичной продукции в машиностроении: новые источники роста : материалы III Всероссийской научно-практической конф., Москва, 6 октября 2020 г. / МГТУ им. Н. Э. Баумана (Нац. исслед. ун-т). - М., 2020. - С. 45-50.

УДК
621.3.087.47 Периодическая регистрация

Авторы МГТУ

Толстогузов Виктор Леонидович

Статья опубликована в следующих изданиях

с. 45-50

Системы управления полным жизненным циклом высокотехнологичной продукции в машиностроении: новые источники роста : материалы III Всероссийской научно-практической конф., Москва, 6 октября 2020 г. / МГТУ им. Н. Э. Баумана (Нац. исслед. ун-т). - М. : Первое экономическое издательство, 2020. - 341 с. : ил. - Библиогр. в конце статей. - ISBN 978-5-91292-325-8.

подробнее