Герб МГТУ им. Н.Э. БауманаНаучно-техническая библиотека МГТУ им. Н.Э. Баумана
Очистить
1 запись
   Статья
Печерская Е. А.
   Метрологический анализ установки для измерений электрофизических свойств сегнетоэлектрических образцов с линейными размерами микрометрового диапазона / Печерская Е. А. // Нано- и микросистемная техника. - 2007. - № 12. - С. 43-47.