Подробное описание документа
Статья
Печерская Е. А.
Метрологический анализ установки для измерений электрофизических свойств сегнетоэлектрических образцов с линейными размерами микрометрового диапазона / Печерская Е. А. // Нано- и микросистемная техника. - 2007. - № 12. -
621.3.088.23 обусловленные свойствами объекта измерений