Подробное описание документа

Печерская Е. А.
   Метрологический анализ установки для измерений электрофизических свойств сегнетоэлектрических образцов с линейными размерами микрометрового диапазона / Печерская Е. А. // Нано- и микросистемная техника. - 2007. - № 12. - С. 43-47.

УДК

621.3.088.23 обусловленные свойствами объекта измерений

Статья опубликована в следующих изданиях