Личный кабинет
3 записи
Вопросы радиоэлектроники Сер. Общетехническая(ОТ) / Научно-исследовательский ин-т экономики и информ. по радиоэлектронике (НИИЭИР), Центральный НИИ "Электроника". - Москва : Изд-во НИИ экономики и информации по радиоэлектронике, 2004.
Вып. 1. - 2004. - 109 с. : ил. - Библиогр.в конце ст.
Вып. 1. - 2004. - 109 с. : ил. - Библиогр.
1 экз.
Статья в журнале
Егоров В. В.
Влияние микронеровностей поверхности на характеристики изображений в оптических прецизионных измерителях. Скалярное приближение. Часть 1. / Егоров В. В. // Нано- и микросистемная техника. - 2009. - № 3. -С. 36-44 .
Влияние микронеровностей поверхности на характеристики изображений в оптических прецизионных измерителях. Скалярное приближение. Часть 1. / Егоров В. В. // Нано- и микросистемная техника. - 2009. - № 3. -
Ибрагим К. Ф.
Основы электронной техники. Элементы. Схемы. Системы : пер. с англ. / Ибрагим К. Ф. ; ред. пер. Аникушин Н. И. ; пер. Матвеев В. М., Хохлов Г. Ф., Хохлов Ф. Г. - Москва : Мир, 1997. - 397 с. : ил. -ISBN 5-03-003167-7 .
Основы электронной техники. Элементы. Схемы. Системы : пер. с англ. / Ибрагим К. Ф. ; ред. пер. Аникушин Н. И. ; пер. Матвеев В. М., Хохлов Г. Ф., Хохлов Ф. Г. - Москва : Мир, 1997. - 397 с. : ил. -
1 экз.
