Личный кабинет
16 записей
Власов А. И., Елсуков К. А., Косолапов И. А.
Оптическая микроскопия : учеб.-метод. комплекс по тем. направлению деятельности ННС "Наноинженерия" : учеб. пособие для вузов / Власов А. И., Елсуков К. А., Косолапов И. А. ; ред. Шахнов В. А. - Москва : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2011. - 181 с. : ил. - (Библиотека "Наноинженерия" : в 17 кн. ; кн. 12). - Библиогр.:с.147-152 . - ISBN 978-5-7038-3503-6 .
Оптическая микроскопия : учеб.-метод. комплекс по тем. направлению деятельности ННС "Наноинженерия" : учеб. пособие для вузов / Власов А. И., Елсуков К. А., Косолапов И. А. ; ред. Шахнов В. А. - Москва : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2011. - 181 с. : ил. - (Библиотека "Наноинженерия" : в 17 кн. ; кн. 12). - Библиогр.:
Читать онлайн
86 экз.
Власов А. И., Елсуков К. А., Панфилов Ю. В.
Методы микроскопии : учеб.-метод. комплекс по тем. направлению деятельности ННС "Наноинженерия" : учеб. пособие для вузов / Власов А. И., Елсуков К. А., Панфилов Ю. В. ; ред. Шахнов В. А. - Москва : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2011. - 278 с. : ил. - (Библиотека "Наноинженерия" : в 17 кн. ; кн. 1). - Библиогр.:с.272-275 . - ISBN 978-5-7038-3492-3 .
Методы микроскопии : учеб.-метод. комплекс по тем. направлению деятельности ННС "Наноинженерия" : учеб. пособие для вузов / Власов А. И., Елсуков К. А., Панфилов Ю. В. ; ред. Шахнов В. А. - Москва : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2011. - 278 с. : ил. - (Библиотека "Наноинженерия" : в 17 кн. ; кн. 1). - Библиогр.:
85 экз.
Дюков В. Г., Кудеяров Ю. А.
Растровая оптическая микроскопия / Дюков В. Г., Кудеяров Ю. А. ; Московский физико-технический институт. - Москва : Наука, 1992. - 206 с. : рис., табл. - (Современные физико-технические проблемы). - Библиогр.:с.203-206 . - ISBN 5-02-014374-X .
Растровая оптическая микроскопия / Дюков В. Г., Кудеяров Ю. А. ; Московский физико-технический институт. - Москва : Наука, 1992. - 206 с. : рис., табл. - (Современные физико-технические проблемы). - Библиогр.:
2 экз.
Егорова О. В.
Техническая микроскопия. Практика работы с микроскопами для технических целей / Егорова О. В. - 2-е изд., перераб. - Москва : ТЕХНОСФЕРА, 2007. - 357 с., [9] л. ил. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр.:с.355-357 . - ISBN 978-5-94836-129-1 .
Техническая микроскопия. Практика работы с микроскопами для технических целей / Егорова О. В. - 2-е изд., перераб. - Москва : ТЕХНОСФЕРА, 2007. - 357 с., [9] л. ил. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр.:
8 экз.
Иванова Т. А., Кирилловский В. К.
Проектирование и контроль оптики микроскопов / Иванова Т. А., Кирилловский В. К. - Ленинград : Машиностроение, 1984. - 230 с. - Библиогр.:с.226-229 .
Проектирование и контроль оптики микроскопов / Иванова Т. А., Кирилловский В. К. - Ленинград : Машиностроение, 1984. - 230 с. - Библиогр.:
3 экз.
Карпухин С. Д., Быков Ю. А.
Световая микроскопия и количественная обработка изображений структур материалов : учебное пособие по курсу "Современные методы исследования структуры материалов" / Карпухин С. Д., Быков Ю. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - Москва : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2003. - 48 с. ил. - Библиогр.:с.48 . - ISBN 5-7038-2352-8 .
Световая микроскопия и количественная обработка изображений структур материалов : учебное пособие по курсу "Современные методы исследования структуры материалов" / Карпухин С. Д., Быков Ю. А. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - Москва : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2003. - 48 с. ил. - Библиогр.:
1 экз.
Диссертация
Лазарев Г. Л.
Разработка и исследование цифрового интерференционного микроскопа для прецизионных измерений малых высот и наноперемещений : 05.11.07 : дис... ктн / Лазарев Г. Л. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - Москва, 2006. - 142 л. - Библиогр.:л.123-130 .
Разработка и исследование цифрового интерференционного микроскопа для прецизионных измерений малых высот и наноперемещений : 05.11.07 : дис... ктн / Лазарев Г. Л. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - Москва, 2006. - 142 л. - Библиогр.:
1 экз.
Автореферат диссертации
Лазарев Г. Л.
Разработка и исследование цифрового интерференционного микроскопа для прецизионных измерений малых высот и наноперемещений : 05.11.07 : автореф. дис... ктн / Лазарев Г. Л. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - Москва, 2006. - 16 с.
Разработка и исследование цифрового интерференционного микроскопа для прецизионных измерений малых высот и наноперемещений : 05.11.07 : автореф. дис... ктн / Лазарев Г. Л. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - Москва, 2006. - 16 с.
2 экз.
Миронов В. Л.
Основы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пособие для вузов / Миронов В. Л. ; РАН. Ин-т физики микроструктур. - Москва : ТЕХНОСФЕРА, 2004. - 143 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.:с.140-143 . - ISBN 5-94836-034-2 .
Основы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пособие для вузов / Миронов В. Л. ; РАН. Ин-т физики микроструктур. - Москва : ТЕХНОСФЕРА, 2004. - 143 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.:
2 экз.
Миронов В. Л.
Основы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пособие для вузов / Миронов В. Л. ; РАН, Институт физики микроструктур. - Москва : ТЕХНОСФЕРА, 2005. - 143 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.:с.140-143 . - ISBN 5-94836-034-2 .
Основы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пособие для вузов / Миронов В. Л. ; РАН, Институт физики микроструктур. - Москва : ТЕХНОСФЕРА, 2005. - 143 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.:
7 экз.
