Герб МГТУ им. Н.Э. БауманаНаучно-техническая библиотека МГТУ им. Н.Э. Баумана

Подробное описание документа

   Статья

Печерская Е. А.
   Метрологические аспекты исследования активных диэлектриков для микро-и наноиндустрии / Печерская Е. А. // Нано- и микросистемная техника. - 2007. - № 7. - С. 41-44.

621.3.088 Погрешности измерений. Коррекция погрешностей измерений. Анализ данных измерений

Статья опубликована в следующих изданиях

с. 41-44
   Журнал
   Нано- и микросистемная техника.
   № 7. - 2007.