Расширенный поиск

Киселёв М. И.
   Зачем нужна такая точность? / Киселёв М. И. // Метрология. - 2013. - № 7. - С. 4-7.

Печерская Е. А.
   Метрологические аспекты исследования активных диэлектриков для микро-и наноиндустрии / Печерская Е. А. // Нано- и микросистемная техника. - 2007. - № 7. - С. 41-44.

Печерская Е. А.
   Метрологический анализ установки для измерений электрофизических свойств сегнетоэлектрических образцов с линейными размерами микрометрового диапазона / Печерская Е. А. // Нано- и микросистемная техника. - 2007. - № 12. - С. 43-47.

   Результаты наблюдений за навигационными космическими аппаратами на особых участках орбиты / Денисенко О. В., Федотов В. Н., Воронов В. Л., Рыжов В. С., Завгородний А. С., Рябов И. В. // Измерительная техника. - 2018. - № 2. - С. 20-23.

Шатилов А. А.
   Влияние износа явных технологических баз на погрешность базирования заготовок / Шатилов А. А. // Ремонт, восстановление, модернизация. - 2015. - № 8. - С. 42-44.

Шатилов А. А.
   Экспериментальное исследование износа оправок с гофрированными втулками для точных работ / Шатилов А. А. // Ремонт, восстановление, модернизация. - 2011. - № 2. - С. 41-45.