Подробное описание документа

Батаев В. А., Батаев А. А., Алхимов А. П.
   Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей : учеб. пособие / Батаев В. А., Батаев А. А., Алхимов А. П. - Новосибирск : Изд-во НГТУ, 2006. - 219 с. : ил. - (Учебники НГТУ). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 5-7782-0698-4.

Рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгено-структурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, тун¬нельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля.
Учебное пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению подготовки специалистов 551600 Материаловедение и технология материалов и покрытий (специальность 120800 Материаловедение в машиностроении).

УДК

620.22 Материалы. Материаловедение

Предметные рубрики

• Материалы - Учебники и пособия

Общее кол-во в фондах

2 экз.

Заказать на абонемент

Заказать в читальный зал

1. Преподавательский абонемент ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
2. Преподавательский абонемент ауд.313, ГУК, ауд. 313
3. Читальный зал ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
4. Читальный зал ауд.313, ГУК, ауд. 313

Похожие издания

Батаев В. А., Батаев А. А., Алхимов А. П.
   Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей : учебное пособие / Батаев В. А., Батаев А. А., Алхимов А. П. - 2-е изд. - М. : Флинта : Наука, 2007. - 219 с. : ил. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-9765-0207-9. - ISBN 978-5-02-034811-0.

Кол-во в фондах 9 экз.

подробнее