Личный кабинет
Подробное описание документа
Батаев В. А.
Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей : учеб. пособие / Батаев В. А., Батаев А. А., Алхимов А. П. - Новосибирск : Изд-во НГТУ, 2006. - 219 с. : ил. - (Учебники НГТУ). - Библиогр.
Рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгено-структурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, тун¬нельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля.
Учебное пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению подготовки специалистов 551600 Материаловедение и технология материалов и покрытий (специальность 120800 Материаловедение в машиностроении).
620.22 Материалы. Материаловедение2 экз.
- Преподавательский абонемент ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
- Преподавательский абонемент ауд.313, ГУК, ауд. 313
- Читальный зал ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
- Читальный зал ауд.313, ГУК, ауд. 313
Похожие издания
Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей : учебное пособие / Батаев В. А., Батаев А. А., Алхимов А. П. - 2-е изд. - М. : Флинта : Наука, 2007. - 219 с. : ил. - Библиогр.
