Подробное описание документа

Батаев В. А., Батаев А. А., Алхимов А. П.
Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей : учебное пособие / Батаев В. А., Батаев А. А., Алхимов А. П. - 2-е изд. - М. : Флинта : Наука, 2007. - 219 с. : ил. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-9765-0207-9. - ISBN 978-5-02-034811-0.

Аннотация

В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля.
Для студентов и преподавателей технических вузов.

УДК
620.22 Материалы. Материаловедение

Предметные рубрики

Материалы - Учебники и пособия

Общее кол-во в фондах
9 экз.

Заказать на абонемент

Заказать в читальный зал

Вы можете получить данный документ в одном из следующих отделов

Абонемент старших курсов, ГУК, ауд. 213
Преподавательский абонемент ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
Преподавательский абонемент ауд.313, ГУК, ауд. 313
Читальный зал ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
Читальный зал ауд.313, ГУК, ауд. 313
Читальный зал ауд.345, ГУК, ауд. 345

Подробное описание документа

Похожие издания