Подробное описание документа

Батаев В. А., Батаев А. А., Алхимов А. П.
   Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей : учеб. пособие / Батаев В. А., Батаев А. А., Алхимов А. П. - 2-е изд. - М. : Флинта : Наука, 2007. - 219 с. : ил. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-9765-0207-9. - ISBN 978-5-02-034811-0.

В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля.
Для студентов и преподавателей технических вузов.

УДК

620.22 Материалы. Материаловедение

Предметные рубрики

• Материалы - Учебники и пособия

Общее кол-во в фондах

9 экз.

Заказать на абонемент

Заказать в читальный зал

1. Абонемент старших курсов, ГУК, ауд. 213
2. Преподавательский абонемент ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
3. Преподавательский абонемент ауд.313, ГУК, ауд. 313
4. Читальный зал ауд. 345, ГУК, ауд. 345
5. Читальный зал ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
6. Читальный зал ауд.313, ГУК, ауд. 313

Похожие издания

Батаев В. А., Батаев А. А., Алхимов А. П.
   Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей : учебное пособие / Батаев В. А., Батаев А. А., Алхимов А. П. - Новосибирск : Изд-во НГТУ, 2006. - 219 с. : ил. - (Учебники НГТУ). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 5-7782-0698-4.

Кол-во в фондах 2 экз.

подробнее