Подробное описание документа

Вавилов В. Д., Глазков О. Н.
   Математическая модель погрешностей и оборудование для статистических испытаний микросистемных акселерометров / Вавилов В. Д., Глазков О. Н. // Нано- и микросистемная техника. - 2008. - № 2. - С. 13-15.

УДК

621.3.049.779 Другие микроэлектронные схемы

Статья опубликована в следующих изданиях