Подробное описание документа

Векилова Г. В., Иванов А. Н., Ягодкин Ю. Д.
   Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов : учеб. пособие для вузов / Векилова Г. В., Иванов А. Н., Ягодкин Ю. Д. ; Федеральное агенство по образованию, Гос. технол. ун-т "Моск. ин-т стали и сплавов"(МИСиС), Кафедра физического материаловедения. - М. : Издат. Дом МИСиС, 2009. - 144 с. : ил. - Библиогр.: с. 144. - ISBN 978-5-87623-228-1.

Читать онлайн Аннотация

В учебном пособии рассмотрены физические основы методов и аппаратура для проведения рентгеноструктурного, электроно- и нейтронографического анализов, просвечивающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа, позволяющие исследовать химический состав и структуру различных материалов, в том числе и нанокристаллических. Особое внимание уделено описанию возможностей этих методов, их точности, чувствительности и локальности.
Соответствует программе курса «Методы и приборы для анализа и диагностики наночастиц и наноматериалов».
Предназначено для студентов, обучающихся по направлению «Нанотехнология» (специальность «Наноматериалы») и по направлению «Материаловедение и технологии материалов» (профиль «Материаловедение и технологии наноматериалов и наносистем»).

УДК

620.22-022.532 Наноструктурные материалы

Предметные рубрики

• Наноструктурные материалы - Методы исследования

Общее кол-во в фондах

2 экз.

1. Преподавательский абонемент ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
2. Преподавательский абонемент ауд.313, ГУК, ауд. 313
3. Читальный зал ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
4. Читальный зал ауд.313, ГУК, ауд. 313