Исследования термической деградации резонансно-туннельных диодов на базе AlAs/GaAs-наногетероструктур / Макеев М. О., Иванов Ю. А., Мешков С. А., Синякин В. Ю.
Используя сайт Библиотеки МГТУ им. Н. Э. Баумана,
Вы соглашаетесь с использованием технических файлов (cookie) и сервисов сбора и анализа статистики посещений
для обеспечения работоспособности сайта и улучшения качества обслуживания.
Подробнее о технических файлах (cookie).