Подробное описание документа

   Исследования термической деградации резонансно-туннельных диодов на базе AlAs/GaAs-наногетероструктур / Макеев М. О., Иванов Ю. А., Мешков С. А., Синякин В. Ю. // Нано- и микросистемная техника. - 2014. - № 12. - С. 23-29.

УДК

621.315.592 Полупроводники

Авторы МГТУ

• Макеев Мстислав Олегович
• Иванов Юрий Александрович
• Мешков Сергей Анатольевич
• Синякин Владимир Юрьевич

Статья опубликована в следующих изданиях