Герб МГТУ им. Н.Э. БауманаНаучно-техническая библиотека МГТУ им. Н.Э. Баумана

Подробное описание документа

   Журнал

   Дефектоскопия.
   № 2. - 2016.

1 экз.
Вы можете получить данный документ в одном из следующих отделов
  1. Преподавательский абонемент ауд.313, ГУК, ауд. 313
  2. Читальный зал ауд.313, ГУК, ауд. 313

Содержание

с. 74-80
   Статья
Мачихин А. С., Батшев В. И.
   Устройство для одновременного визуального и теплового контроля изделий микроэлектроники / Мачихин А. С., Батшев В. И.