Подробное описание документа

   Взаимосвязь надежности AlGaN/GaN транзисторов с характером организации наноматериала / Емцев В. В., Заварин Е. Е., Оганесян Г. А., Петров В. Н., Сахаров А. В., Шмидт Н. М., Вьгинов В. Н., Зыбин А. А., Парнес Я. М., Видякин С. И., Гудков А. Г., Черняков А. Е. // Письма в "Журнал технической физики". - 2016. - Т. 42, № 13. - С. 80-86.

Авторы МГТУ

• Видякин Святослав Игоревич
• Гудков Александр Григорьевич

Статья опубликована в следующих изданиях