Подробное описание документа
Загидуллин Р. Ш.
Исследование полупроводниковых диодов в MicroСap, Multisim и MathCAD : метод. указания к выполнению лаб. практикума / Загидуллин Р. Ш. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2016. - 140 с. : ил. -
Изложены особенности проведения лабораторных исследований свойств полупроводниковых диодов, моделирования стендов для исследования. Рассмотрено взаимодействие программ схемотехнического моделирования MicroСap и программ математической обработки экспериментальных данных. Приведены особенности проведения экспериментов для расчета моделей полупроводниковых диодов.
Для студентов, обучающихся по направлению подготовки "Радиоэлектронные системы и комплексы". Может быть полезно при курсовом и дипломном проектировании.
621.382.2 Полупроводниковые (кристаллические) диоды20 экз.
Вы можете получить данный документ в одном из следующих отделов
- Абонемент младших курсов №1, УЛК, ауд. 247л
- Абонемент младших курсов №2, УЛК, ауд. 205л
- Абонемент старших курсов, ГУК, ауд. 213
- Преподавательский абонемент ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
- Преподавательский абонемент ауд.313, ГУК, ауд. 313
- Читальный зал ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
- Читальный зал ауд.313, ГУК, ауд. 313
- Читальный зал ауд.345, ГУК, ауд. 345
Похожие издания
Загидуллин, Р. Ш. Исследование полупроводниковых диодов в MicroСap, Multisim и MathCAD : учебное пособие / Р. Ш. Загидуллин. — Москва : МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2016. — 140 с. — ISBN 978-5-7038-4423-6.