Герб МГТУ им. Н.Э. БауманаНаучно-техническая библиотека МГТУ им. Н.Э. Баумана

Подробное описание документа

Загидуллин Р. Ш.
   Исследование полупроводниковых диодов в MicroСap, Multisim и MathCAD : метод. указания к выполнению лаб. практикума / Загидуллин Р. Ш. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2016. - 140 с. : ил. - ISBN 978-5-7038-4423-6.

Издательство МГТУ им. Н.Э. Баумана

Изложены особенности проведения лабораторных исследований свойств полупроводниковых диодов, моделирования стендов для исследования. Рассмотрено взаимодействие программ схемотехнического моделирования MicroСap и программ математической обработки экспериментальных данных. Приведены особенности проведения экспериментов для расчета моделей полупроводниковых диодов.
Для студентов, обучающихся по направлению подготовки "Радиоэлектронные системы и комплексы". Может быть полезно при курсовом и дипломном проектировании.

621.382.2 Полупроводниковые (кристаллические) диоды
20 экз.
Вы можете получить данный документ в одном из следующих отделов
  1. Абонемент младших курсов №1, УЛК, ауд. 247л
  2. Абонемент младших курсов №2, УЛК, ауд. 205л
  3. Абонемент старших курсов, ГУК, ауд. 213
  4. Преподавательский абонемент ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
  5. Преподавательский абонемент ауд.313, ГУК, ауд. 313
  6. Читальный зал ауд. 345, ГУК, ауд. 345
  7. Читальный зал ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
  8. Читальный зал ауд.313, ГУК, ауд. 313

Похожие издания

Загидуллин, Р. Ш. Исследование полупроводниковых диодов в MicroСap, Multisim и MathCAD : учебное пособие / Р. Ш. Загидуллин. — Москва : МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2016. — 140 с. — ISBN 978-5-7038-4423-6.
ЭБС «Лань»