Подробное описание документа

Загидуллин, Р. Ш. Исследование полупроводниковых диодов в MicroСap, Multisim и MathCAD : учебное пособие / Р. Ш. Загидуллин. — Москва : МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2016. — 140 с. — ISBN 978-5-7038-4423-6.

Лань

Войти и читать

https://e.lanbook.com/book/103346

Изложены особенности проведения лабораторных исследований свойств полупроводниковых диодов, моделирования стендов для исследования. Рассмотрено взаимодействие программ схемотехнического моделирования MicroСap и программ математической обработки экспериментальных данных. Приведены особенности проведения экспериментов для расчета моделей полупроводниковых диодов. Для студентов, обучающихся по направлению подготовки «Радиоэлектронные системы и комплексы». Может быть полезно при курсовом и дипломном проектировании.

Коллекция

ЭБС «Лань»

Похожие издания

Загидуллин Р. Ш.
   Исследование полупроводниковых диодов в MicroСap, Multisim и MathCAD : метод. указания к выполнению лаб. практикума / Загидуллин Р. Ш. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2016. - 140 с. : ил. - ISBN 978-5-7038-4423-6.

Читать онлайн

Кол-во в фондах 20 экз.

подробнее