Подробное описание документа

   Аспекты точности в дифрактометрии поликристаллов. - 1989. - 239 с.

Аннотация

В монографии собран и обобщён материал по повышению точности получения и обработки экспериментальных данных в дифрактометрии поликристаллов. Рассмотрены типы современных дифрактометров и их основные характеристики, математическая теория аберраций, методы юстировки гониометров для получения оптимального разрешения и светосилы. Обсуждаются приёмы обработки данных эксперимента, безэталонные методы измерения межплоскостных расстояний, эталоны и их применение, погрешности измерения интенсивностей и способы устранения текстуры. Наряду с известными в монографию включены и оригинальные методики, разработанные авторами. Освещены приёмы обработки первичной информации с применением вычислительной техники и критерии оценки качества данных.
Книга предназначена для научных и инженерно-технических работников рентгенографических подразделений материаловедческих, химических и геологических организаций.

УДК

539.26 Рентгеноструктурный анализ. Исследование сверхтонкой структуры вещества при помощи дифракции рентгеновских лучей

Предметная рубрика

• Рентгеноструктурный анализ

Общее кол-во в фондах

1 экз.

Заказать в читальный зал

Заявка на закупку

1. Преподавательский абонемент ауд.313, ГУК, ауд. 313
2. Читальный зал ауд.313, ГУК, ауд. 313