27 записей
Боуэн Д. К., Таннер Б. К.
Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография : пер. с англ. / Боуэн Д. К., Таннер Б. К. ; отв. ред. Шульпина И. Л. ; пер. Шульпина И. Л., Аргунова Т. С. - СПб. : Наука, 2002. - 273 с. : ил. - Библиогр.в конце гл. - ISBN 5-02-024963-7 .
Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография : пер. с англ. / Боуэн Д. К., Таннер Б. К. ; отв. ред. Шульпина И. Л. ; пер. Шульпина И. Л., Аргунова Т. С. - СПб. : Наука, 2002. - 273 с. : ил. - Библиогр.
Косенков В. М.
Рентгенография в реакторном материаловедении / Косенков В. М. ; Ульяновский гос. ун-т. - 2-е изд., перераб. и доп. - Ульяновск, 2006. - 167 с. : ил. - Библиогр.:с. 160-167 . - ISBN 5-88868-253-4 .
Рентгенография в реакторном материаловедении / Косенков В. М. ; Ульяновский гос. ун-т. - 2-е изд., перераб. и доп. - Ульяновск, 2006. - 167 с. : ил. - Библиогр.:
Жданов Г. С.
Основы рентгеновского структурного анализа : учеб. пособие для ун-тов / Жданов Г. С. - М. ; Л. : Гостехиздат, 1940. - 446 с. : ил. - При участии А. И. Китайгородского.
Основы рентгеновского структурного анализа : учеб. пособие для ун-тов / Жданов Г. С. - М. ; Л. : Гостехиздат, 1940. - 446 с. : ил. - При участии А. И. Китайгородского.
Анищик В. М., Понарядов В. В., Углов В. В.
Дифракционный анализ : учебное пособие для вузов / Анищик В. М., Понарядов В. В., Углов В. В. - Минск : Вышэйшая школа, 2011. - 213 с. : ил. - Библиогр.:с. 213 . - ISBN 978-985-06-1834-4 .
Дифракционный анализ : учебное пособие для вузов / Анищик В. М., Понарядов В. В., Углов В. В. - Минск : Вышэйшая школа, 2011. - 213 с. : ил. - Библиогр.:
Ковба Л. М., Трунов В. К.
Рентгенофазовый анализ / Ковба Л. М., Трунов В. К. - М. : Изд-во Моск. ун-та, 1969. - 159 с. : ил. - Библиогр.в конце гл.
Рентгенофазовый анализ / Ковба Л. М., Трунов В. К. - М. : Изд-во Моск. ун-та, 1969. - 159 с. : ил. - Библиогр.
Порай-Кошиц М. А.
Практический курс рентгеноструктурного анализа : учеб. пособие для ун-тов / Порай-Кошиц М. А. ; ред. Бокия Г. Б. - М. : Изд-во Московского ун-та, 1960.
Т. 2. - 1960. - 631 с. : ил.
Практический курс рентгеноструктурного анализа : учеб. пособие для ун-тов / Порай-Кошиц М. А. ; ред. Бокия Г. Б. - М. : Изд-во Московского ун-та, 1960.
Т. 2. - 1960. - 631 с. : ил.
Диагностика микроэлектронных структур : сборник статей / Российская академия наук ; отв. ред. тома Афанасьев А. М. - М. : Наука, 1993. - 110 с. : ил. - (Труды / Физико-технологический институт АН (ФТИАН) ; т. 5). - Библиогр. в конце статей . - ISBN 5-02-006981-7 .
Сатдарова Ф. Ф.
Дифракционный анализ деформированных металлов. Теория, методика, программное обеспечение : монография / Сатдарова Ф. Ф. - М. : РИОР : Инфра-М, 2018. - 203 с. : ил. - (Научная мысль). - Библиогр.:с. 194-201 . - ISBN 978-5-369-01527-8 . - ISBN 978-5-16-011559-7 . - ISBN 978-5-16-104139-0 .
Дифракционный анализ деформированных металлов. Теория, методика, программное обеспечение : монография / Сатдарова Ф. Ф. - М. : РИОР : Инфра-М, 2018. - 203 с. : ил. - (Научная мысль). - Библиогр.:
Илюшин А. С., Орешко А. П.
Дифракционный структурный анализ : учебное пособие для вузов : в 2 ч. / Илюшин А. С., Орешко А. П. - 2-е изд., испр. и доп. - М. : Юрайт, 2019. - (Авторский учебник). -ISBN 978-5-534-04317-4 .
Ч. 1. - 2019. - 326 с. : ил. -ISBN 978-5-534-04316-7 .
Дифракционный структурный анализ : учебное пособие для вузов : в 2 ч. / Илюшин А. С., Орешко А. П. - 2-е изд., испр. и доп. - М. : Юрайт, 2019. - (Авторский учебник). -
Ч. 1. - 2019. - 326 с. : ил. -
Илюшин А. С., Орешко А. П.
Дифракционный структурный анализ : учебное пособие для вузов : в 2 ч. / Илюшин А. С., Орешко А. П. - 2-е изд., испр. и доп. - М. : Юрайт, 2019. - (Авторский учебник). -ISBN 978-5-534-04317-4 .
Ч. 2. - 2019. - 298 с. : ил. - Библиогр.:с. 268-298 . - ISBN 978-5-534-04324-2 .
Дифракционный структурный анализ : учебное пособие для вузов : в 2 ч. / Илюшин А. С., Орешко А. П. - 2-е изд., испр. и доп. - М. : Юрайт, 2019. - (Авторский учебник). -
Ч. 2. - 2019. - 298 с. : ил. - Библиогр.: