Жигалина Ольга Михайловна

   Влияние содержания углерода на структуру и микротвердость сталей при скоростном воздействии деформирующим резанием / Жигалина О. М., Дегтярева А. Г., Зубков Н. Н., Симонов В. Н., Васильев С. Г. // Металловедение и термическая обработка металлов. - 2020. - № 2. - С. 65-71.

   Структура поверхности стали у8 после обработки деформирующим резанием / Жигалина О. М., Дегтярева А. Г., Хмеленин Д. Н., Симонов В. Н. // Поверхность: рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2020. - № 6. - С. 88-94.

   Специфика структуры стали 35 после закалки деформирующим резанием / Дегтярева А. Г., Жигалина О. М., Хмеленин Д. Н., Симонов В. Н. // Кристаллография. - 2019. - Т. 64, № 1. - С. 120-126.

   Слоевые нанопроволоки-матричный синтез, структура и магнитные свойства / Загорский Д. Л., Долуденко И. М., Черкасов Д. А., Жигалина О. М., Хмеленин Д. Н., Иванов И. М., Бухараев А. А., Бизяев Д. А., Хайбуллин Р. И., Шаталов С. А. // Физика твердого тела. - 2019. - Т. 61, № 9. - С. 1682-1693.

   Сопоставление данных просвечивающей электронной микроскопии и рентгеновской рефлектометрии при исследовании строения нанокомпозитных кремний-углеродных пленок / Асадчиков В. Е., Волков Ю. О., Дьячкова И. Г., Жигалина О. М., Каневский В. М., Муслимов А. Э., Нуждин А. Д., Пименов С. М., Рощин Б. С., Русаков А. А., Хмеленин Д. Н., Шахбазов С. Ю., Шупегин М. Л. // Кристаллография. - 2019. - Т. 64, № 5. - С. 776-780.

   Электронная микроскопия поверхности дентальных имплантатов и наноразмерных металлсодержащих частиц, полученных в составе супернатантов / Жигалина О. М., Хмеленин Д. Н., Лабис В. В., Базикян Э. А., Сизова В. С., Хайдуков С. В., Асадчиков В. Е., Бузмаков А. В., Кривоносов Ю. С., Золотов Д. А., Козлов И. Г. // Кристаллография. - 2019. - Т. 64, № 5. - С. 781-789.

   Структурные особенности и взаимное влияние слоев композиций pzt–lno–siox–si и pzt–lno–si / Жигалина О. М., Атанова А. В., Хмеленин Д. Н., Котова Н. М., Серегин Д. С., Воротилов К. А. // Кристаллография. - 2019. - Т. 64, № 6. - С. 955-961.

   Кристаллизация слоев в гетероструктурах PZT/LNO/Si / Атанова А. В., Жигалина О. М., Хмеленин Д. Н., Серегин Д. С., Воротилов К. А. // Физика твердого тела. - 2019. - Т. 61, № 12. - С. 2442-2446.

   Опыт создания отечественных составных рефракционных линз, изготовленных из бериллия / Семенов А. А., Забродин А. В., Горлевский В. В., Шевердяев М. С., Лизунов А. В., Жигалина О. М., Серегин А. В. // Кристаллография. - 2017. - Т. 62, № 1. - С. 17-22.

   Структура и механические свойства фольг, полученных из нанокристаллического бериллия / Жигалина О. М., Семенов А. А., Забродин А. В., Хмеленин Д. Н., Брылев Д. А., Лизунов А. В., Небера А. Л., Морозов И. А., Аникин А. С., Орехов А. С., Кускова А. Н., Мишин А. В., Серегин А. В. // Кристаллография. - 2016. - Т. 61, № 4. - С. 526-534.

   Исследование влияния структуры нижнего электрода на свойства пленок ЦТС, сформированных методом химического осаждения из растворов / Вишневский А. С., Воротилов К. А., Жигалина О. М., Ланцев А. Н., Подгорный Ю. В., Серегин Д. С. // Нано- и микросистемная техника. - 2013. - № 1. - С. 15-20.

Жигалина О. М., Назаркин Р. М.
   Исследование материалов методами рентгеноструктурного анализа : учебно-методическое пособие / Жигалина О. М., Назаркин Р. М. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский ун-т). - М. : Изд-во УНЦ МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2023. - 114 с. : рис., табл. - Библиогр.: с. 106. - ISBN 978-5-7038-6058-8.

Жигалина О. М.
   Материалы микроэлектроники: тонкие пленки для интегрированных устройств : учеб. пособие / Жигалина О. М. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2017. - 121 с. : ил. - Библиогр.: с. 104-108. - ISBN 978-5-7038-4743-5.

Жигалина О. М.
   Кристаллографический анализ структуры металлов : метод. указания к семинарам по дисциплине "Физика металлов" (модуль "Основы кристаллографии") / Жигалина О. М. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2017. - 34 с. : ил. - Библиогр. в конце брош. - ISBN 978-5-7038-4782-4.

Жигалина О. М.
   Анализ дефектов кристаллического строения металлов : метод. указания к семинарам по дисциплине "Физика металлов" (модуль "Дефекты кристаллического строения") / Жигалина О. М. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2017. - 33 с. : ил. - Библиогр. в конце брош. - ISBN 978-5-7038-4783-1.

Жигалина О. М., Базалеева К. О.
   Анализ структуры материала методами просвечивающей электронной микроскопии : метод. указания к выполнению лаб. работы по дисциплине "Методы структурного анализа" / Жигалина О. М., Базалеева К. О. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2017. - 34 с. : ил. - Библиогр.: с. 29. - ISBN 978-5-7038-4785-5.