Подробное описание документа
Журнал
Оптический журнал.
Т. 85, № 3. - 2018.
1 экз.
Вы можете получить данный документ в одном из следующих отделов
- Преподавательский абонемент ауд.313, ГУК, ауд. 313
- Читальный зал ауд.313, ГУК, ауд. 313
Содержание
с. 54-61
Статья
Высокоточный метод контроля параметров локальных отклонений нанометрового уровня поверхности оптической детали / Барышников Н. В., Денисов Д. Г., Карасик В. Е., Абдулкадыров М. А., Игнатов А. Н., Патрикеев В. Е., Семёнов А. П., Морозов А. Б., Судариков И. Н., Шаров Ю. А.
с. 19-26
Статья
Изготовление тонких слоев коллоидных квантовых точек на планарных субстратах с использованием полиметилметакрилата / Тананаев П. Н., Богинская И. А., Быков И. В., Трофимов И. В., Родионов И. А., Рыжиков И. А., Янковский Г. М., Барышев А. В.