Подробное описание документа

Дракин А. Ю., Зотин В. Ф., Потапов Л. А.
Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов : монография / Дракин А. Ю., Зотин В. Ф., Потапов Л. А. - СПб. : Лань, 2018. - 282 с. : ил. - (Учебники для вузов. Специальная литература) (Магистратура и аспирантура). - Библиогр.: с. 272-279. - ISBN 978-5-8114-3312-4.

Аннотация

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассмотрены методы контроля, программы испытаний, конструкции устройств (тестеров) для контроля параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов, приведены описания отечественных и зарубежных тестеров.
Монография предназначена для инженерно-технических работников предприятий электронной и радиоэлектронной промышленности, также может быть полезна студентам, обучающимся по направлениям "Радиотехника" , "Инфокоммуникационные технологии и системы связи", "Конструирование и технология электронных средств", "Электроника и наноэлектроника", "Электроэнергетика и электротехника" (уровень магистратура), аспирантам направлений "Электроника, радиотехника и системы связи", "Электро- и теплотехника".

УДК
621.3.049.77 Микроэлектроника. Интегральные схемы

Предметные рубрики

Интегральные схемы аналоговые

Диоды полупроводниковые

Транзисторы - Параметры

Общее кол-во в фондах
4 экз.

Заказать на абонемент

Заказать в читальный зал

Вы можете получить данный документ в одном из следующих отделов

Преподавательский абонемент ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
Преподавательский абонемент ауд.313, ГУК, ауд. 313
Читальный зал ауд.305л, УЛК, ауд. 305л
Читальный зал ауд.313, ГУК, ауд. 313

Подробное описание документа

Похожие издания