Личный кабинет
Подробное описание документа
Дракин, А. Ю. Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов : монография / А. Ю. Дракин, В. Ф. Зотин, Л. А. Потапов. — 2-е изд., стер. — Санкт-Петербург : Лань, 2021. — 284 с. — ISBN 978-5-8114-8773-8.
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассмотрены методы контроля, программы испытаний, конструкции устройств (тестеров) для контроля параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов, приведены описания отечественных и зарубежных тестеров. Монография предназначена для инженерно-технических работников предприятий электронной и радиоэлектронной промышленности, также может быть полезна студентам, обучающимся по направлениям «Радиотехника», «Инфокоммуникационные технологии и системы связи», «Конструирование и технология электронных средств», «Электроника и наноэлектроника», «Электроэнергетика и электротехника» (уровень магистратура), аспирантам направлений «Электроника, радиотехника и системы связи», «Электро- и теплотехника».
Похожие издания
Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов : монография / Дракин А. Ю., Зотин В. Ф., Потапов Л. А. - СПб. : Лань, 2018. - 282 с. : ил. - (Учебники для вузов. Специальная литература) (Магистратура и аспирантура). - Библиогр.:
