Подробное описание документа

Статья

Киселев М. И.
Одаренность и нравственность в горизонтах технологического развития / Киселев М. И. // Одаренность: методы выявления и пути развития : сборник статей, докладов и материалов Всерос. конф., Москва, 28 сентября 2017г. : в 2 ч. / Ассоциация технических ун-тов, МГТУ им. Н. Э. Баумана. - 2018. - Ч. 2 / отв. ред. Александров А. А., Балтян В. К. - С. 249-256.

УДК
378 Высшее образование. Высшая школа. Подготовка научных кадров

Авторы МГТУ

Киселев Михаил Иванович

Статья опубликована в следующих изданиях

с. 249-256

Одаренность: методы выявления и пути развития : сборник статей, докладов и материалов Всерос. конф., Москва, 28 сентября 2017г. : в 2 ч. / Ассоциация технических ун-тов, МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2018. - ISBN 978-5-91916-035-9.
Ч. 2 / отв. ред. Александров А. А., Балтян В. К. - 2018. - 303 с. - Библиогр. в конце ст. - ISBN 978-5-91916-033-5.

подробнее