Герб МГТУ им. Н.Э. БауманаНаучно-техническая библиотека МГТУ им. Н.Э. Баумана

Подробное описание документа

   Статья

   Анализ разрушающих методов измерения и контроля толщины тонких пленок / Шупенев А. Е., Панкова Н. С., Коршунов И. С., Григорьянц А. Г. // Известия ВУЗов. Сер. "Машиностроение". - 2019. - № 3. - С. 31-39.

53.082.53 на использовании отражения, преломления и поглощения света

Статья опубликована в следующих изданиях

с. 31-39
   Журнал
   Известия ВУЗов. Сер. "Машиностроение".
   № 3. - 2019.