Коршунов Иван Сергеевич

Тихомиров Г. В., Коршунов И. С., Шупенев А. Е.
   Исследование свойств тонких медных пленок, осажденных на фотополимерной подложке методом импульсного лазерного осаждения / Тихомиров Г. В., Коршунов И. С., Шупенев А. Е. // Будущее машиностроения России. Всероссийская конференция молодых учёных и специалистов ( с международным участием), 17-я, Москва, 21-24 сентября 2024 г. : сборник докладов : в 2 т. / МГТУ им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский университет), Союз машиностроителей России. - 2025. - Т. 1. - С. 300-304.

   Защита зеркал путем нанесения тонкопленочных покрытий методом импульсного лазерного осаждения / Кривошеев А. В., Шупенев А. Е., Коршунов И. С., Григорьянц А. Г. // Лазерные технологии в машиностроении : юбилейный сборник статей (1981-2021 гг) / МГТУ им. Н. Э. Баумана (Национальный исследовательский университет) ; общ. ред. Григорьянц А. Г. - М., 2022. - С. 114-124.

   Лазерная обработка поверхностей пластин теплообменников DLC-покрытиями / Шупенев А. Е., Коршунов И. С., Кривошеев А. В., Григорьянц А. Г., Онищенко Д. О., Фокин Ю. О. // Электрометаллургия. - 2021. - № 5. - С. 23-30.

Шупенев А. Е., Коршунов И. С., Григорьянц А. Г.
   Получение тонких пленок теллурида висмута на полиимидных подложках методом импульсного лазерного осаждения / Шупенев А. Е., Коршунов И. С., Григорьянц А. Г. // Физика и техника полупроводников. - 2020. - Т. 54, № 3. - С. 305-309.

   Особенности получения алмазоподобных покрытий методом импульсного лазерного осаждения / Григорьянц А. Г., Шупенев А. Е., Кривошеев А. В., Пономаренко С. Л., Коршунов И. С. // Сварочное производство. - 2020. - № 10. - С. 22-26.

   Анализ разрушающих методов измерения и контроля толщины тонких пленок / Шупенев А. Е., Панкова Н. С., Коршунов И. С., Григорьянц А. Г. // Известия ВУЗов. Сер. "Машиностроение". - 2019. - № 3. - С. 31-39.

   Радиационные термоэлементы на основе теллурида висмута, получаемые методом импульсивного лазерного осаждения / Шупенев А. Е., Коршунов И. С., Ильин А. С., Осипков А. С., Григорьянц А. Г. // Физика и техника полупроводников. - 2019. - Т. 53, № 6. - С. 756-760.

   Анализ неразрушающих методов измерения и контроля толщины тонких пленок / Шупенев А. Е., Панкова Н. С., Коршунов И. С., Григорьянц А. Г. // Известия ВУЗов. Сер. "Машиностроение". - 2019. - № 4. - С. 18-27.