Подробное описание документа
Статья
Анализ неразрушающих методов измерения и контроля толщины тонких пленок / Шупенев А. Е., Панкова Н. С., Коршунов И. С., Григорьянц А. Г. // Известия ВУЗов. Сер. "Машиностроение". - 2019. - № 4. -
53.082.53 на использовании отражения, преломления и поглощения света