Подробное описание документа
Журнал
Поверхность: рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования.
№ 11. - 2020.
1 экз.
Вы можете получить данный документ в одном из следующих отделов
- Преподавательский абонемент ауд.313, ГУК, ауд. 313
- Читальный зал ауд.313, ГУК, ауд. 313
Содержание
с. 3-11
Статья
Методы двухкристальной рентгеновской дифрактометрии и топографии в анализе реальной структуры кристаллов / Романов Д. А., Прохоров И. А., Волошин А. Э., Косушкин В. Г., Большаков А. П., Ральченко В. Г.