Подробное описание документа
Журнал
Микроэлектроника.
Т. 52, № 4. - 2023.
1 экз.
Вы можете получить данный документ в одном из следующих отделов
- Преподавательский абонемент ауд.313, ГУК, ауд. 313
- Читальный зал ауд.313, ГУК, ауд. 313
Содержание
с. 282-289
Статья
Глушко А. А., Морозов С. А., Чистяков М. Г.
Исследование чувствительной области МОП-транзистора к воздействию вторичных частиц, возникающих вследствие ионизирующего излучения / Глушко А. А., Морозов С. А., Чистяков М. Г.
Исследование чувствительной области МОП-транзистора к воздействию вторичных частиц, возникающих вследствие ионизирующего излучения / Глушко А. А., Морозов С. А., Чистяков М. Г.