Подробное описание документа

Глушко А. А., Морозов С. А., Чистяков М. Г.
   Исследование чувствительной области МОП-транзистора к воздействию вторичных частиц, возникающих вследствие ионизирующего излучения / Глушко А. А., Морозов С. А., Чистяков М. Г. // Микроэлектроника. - 2023. - Т. 52, № 4. - С. 282-289.

УДК

621.382 Электронные элементы, использующие свойства твердого тела. Полупроводниковая электроника

Авторы МГТУ

• Глушко Андрей Александрович
• Морозов Сергей Александрович
• Чистяков Михаил Геннадьевич

Статья опубликована в следующих изданиях