Подробное описание документа

Панфилова Е. В., Ибрагимов А. Р., Францышин Д. В.
   Нейросетевая модель для корректировки процесса исследования коллоидных нано- и микроструктур методом атомно-силовой микроскопии / Панфилова Е. В., Ибрагимов А. Р., Францышин Д. В. // Наноиндустрия. - 2024. - Т. 17, № 6. - С. 346-354.

Важным этапом процесса формирования микро- и наноструктур являются операции контроля. Для оперативного контроля коллоидных нано- и микроструктурированных пленок используют атомно-силовую микроскопию, реализуемую методом амплитудно-модуляционного полуконтактного сканирования. Этот способ характеризуется сложностью и длительностью настроек режимов сканирования образцов. В данном проекте разработана нейронная сеть для автоматической оптимизации параметров процесса в ходе сканирования, что позволяет значительно ускорить процедуру контроля, повысить качество изображений и точность измерений.
Ключевые слова: Наноструктуры, серебро, атомно-силовая микроскопия

Авторы МГТУ

• Панфилова Екатерина Вадимовна
• Ибрагимов Артем Рустамович

Статья опубликована в следующих изданиях