Панфилова Екатерина Вадимовна

   Лабораторный комплекс для получения коллоидных фотонно-кристаллических структур. Часть 1 / Панфилова Е. В., Дюбанов В. А., Ибрагимов А. Р., Шрамко Д. Ю. // Наноиндустрия. - 2024. - Т. 17, № 3-4. - С. 190-198.

   Лабораторный комплекс для получения коллоидных фотонно-кристаллических структур. Часть 2 / Панфилова Е. В., Дюбанов В. А., Ибрагимов А. Р., Шрамко Д. Ю. // Наноиндустрия. - 2024. - № 5. - С. 268-275.

Панфилова Е. В., Ибрагимов А. Р., Францышин Д. В.
   Нейросетевая модель для корректировки процесса исследования коллоидных нано- и микроструктур методом атомно-силовой микроскопии / Панфилова Е. В., Ибрагимов А. Р., Францышин Д. В. // Наноиндустрия. - 2024. - Т. 17, № 6. - С. 346-354.

Панфилова Е. В.
   Применение алгоритмов искусственного интеллекта и нейросетевого моделирования технических систем в научно-исследовательской работе студентов / Панфилова Е. В. // Ключевые тренды развития искусственного интеллекта: наука и технологии : сборник трудов международной ИТ-конференция, Москва, 21 апреля 2023 г. / МГТУ им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский ун-т), Научно-учебный комплекс "Информатика и системы управления" МГТУ им. Н. Э. Баумана, Научно-образовательный центр "Технологии искусственного интеллекта" МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2023. - С. 105-110.

Жбейли Батуль, Панфилова Е. В., Яковлева Е. А.
   Разработка нейронной сети для анализа данных металлооксидных газовых сенсоров в системе искусственного носа / Жбейли Батуль, Панфилова Е. В., Яковлева Е. А. // Наука, технологии и бизнес : сборник материалов 5-ой Межвузовской конференции аспирантов, соискателей и молодых учёных, Москва, 18-19 апреля 2023 г. / МГТУ им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский ун-т). - М., 2023. - С. 109-119.

Панфилова Е. В.
   Ориентированный на получение практических навыков онлайн-курс магистерской подготовки «Нейросетевое моделирование сложных технических систем» / Панфилова Е. В. // Цифровые технологии в инженерном образовании: новые тренды и опыт внедрения : международный форум, Москва, 28-29 нояб. 2019 г. : сборник трудов / МГТУ им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский ун-т). - М., 2020. - С. 333-335.

Ибрагимов А. Р., Мозер К. В., Панфилова Е. В.
   Исследование фотоннокристаллических свойств пленок, образованных из микросфер полистирола на вытянутых из коллоидного раствора подложках / Ибрагимов А. Р., Мозер К. В., Панфилова Е. В. // Необратимые процессы в природе и технике : труды 10-той Всерос. конф., Москва, 27-29 января 2019 : в 3 ч. / РАН, МГТУ им. Н. Э. Баумана, Физический институт им. П. Н. Лебедева. - 2019. - Ч. 3. - С. 77-79.

Жуков Р. М., Панфилова Е. В., Шрамко Д. Ю.
   Исследование влияния состава реакционной смеси при гидролизе тетраэтоксисилана на свойства коллоидного раствора и самособирающихся пленок кремнезема / Жуков Р. М., Панфилова Е. В., Шрамко Д. Ю. // Необратимые процессы в природе и технике : труды 10-той Всерос. конф., Москва, 27-29 января 2019 : в 3 ч. / РАН, МГТУ им. Н. Э. Баумана, Физический институт им. П. Н. Лебедева. - 2019. - Ч. 1. - С. 234-236.

Колесник В. Л., Панфилова Е. В.
   Применение стандартизированных методик при использовании атомно-силовой микроскопии в учебном процессе / Колесник В. Л., Панфилова Е. В. // Состояние и проблемы измерений : сборник материалов XIV Всерос. научно-техн. конф., МГТУ им. Н. Э. Баумана, 18-20 апреля 2017 г. / МГТУ им. Н. Э. Баумана, МГУ им. М. В. Ломоносова, Институт прикладной математики им. М. В. Келдыша РАН, Институт проблем машиностроения РАН, Институт машиноведения им. А. А. Благонравова РАН. - М., 2017. - С. 319-322.

Колесник В. Л., Доброносова А. А., Панфилова Е. В.
   Методика исследования шероховатости опаловых наноструктур на основе стандарта ГОСТ Р 8. 700-2010 / Колесник В. Л., Доброносова А. А., Панфилова Е. В. // Инженерно-физические проблемы новой техники : сборник материалов 12-го Всеросийского совещания-семинара, МГТУ им. Н. Э. Баумана, 20-22 апреля 2016г. / МГТУ им. Н. Э. Баумана, МГУ им. М. В. Ломоносова, Ин-т проблем машиностроения, Ин-т машиноведения им. А. А. Благонравова РАН, Моск. авиационный ин-т. - М., 2016. - С. 124-127.

Вагулина Е. В., Сырицкий А. Б., Панфилова Е. В.
   Результаты исследования планарных опаловых структур методами сканирующей туннельной микроскопии / Вагулина Е. В., Сырицкий А. Б., Панфилова Е. В. // Наноинженерия. - 2015. - № 1. - С. 3-6.

Вагулина Е. В., Сырицкий А. Б., Панфилова Е. В.
   Измерения параметров топографии поверхности и вольт-амперных характеристик тонкопленочных систем металл/синтетический опал/металл методом туннельной микроскопии / Вагулина Е. В., Сырицкий А. Б., Панфилова Е. В. // Состояние и проблемы измерений : сборник материалов XIII Всерос. научно-техн. конф., МГТУ им. Н. Э. Баумана, 22-24 апреля 2015г / МГТУ им. Н. Э. Баумана, МГУ им. М. В. Ломоносова, Ин-т проблем машиноведения, Ин-т проблем машиностроения, Ин-т машиноведения им. А. А. Благонравова РАН, Ин-т физики РАН им. А. М. Прохорова, Моск. авиационный ин-т. - М., 2015. - С. 76-79.

Вагулина Е. В., Панфилова Е. В., Сырицкий А. Б.
   Исследование многослойных структур на основе опаловых пленой методом сканирующей туннельной микроскопии / Вагулина Е. В., Панфилова Е. В., Сырицкий А. Б. // Высокие технологии в промышленности России (материалы и устройства функциональной электроники и микрофотоники). XX Междунар. научно-техн. конф. Тонкие пленки в электронике. XXVII Междунар. симпозиума. Наноинженерия. VII Междунар. научно-техн. конф. : сборник научных трудов / ред. Белянин А. Ф., Панфилов Ю. В., Самойлович М. И. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2015. - С. 252-256.

Доброносова А. А., Колесник В. Л., Панфилова Е. В.
   Использование стандартизованных методик при исследовании опаловых структур / Доброносова А. А., Колесник В. Л., Панфилова Е. В. // Высокие технологии в промышленности России (материалы и устройства функциональной электроники и микрофотоники). XX Междунар. научно-техн. конф. Тонкие пленки в электронике. XXVII Междунар. симпозиума. Наноинженерия. VII Междунар. научно-техн. конф. : сборник научных трудов / ред. Белянин А. Ф., Панфилов Ю. В., Самойлович М. И. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2015. - С. 257-260.

Ашурбекова М. И., Панфилова Е. В.
   Формирование опаловых структур в условиях электрофореза / Ашурбекова М. И., Панфилова Е. В. // Высокие технологии в промышленности России (материалы и устройства функциональной электроники и микрофотоники). XX Междунар. научно-техн. конф. Тонкие пленки в электронике. XXVII Междунар. симпозиума. Наноинженерия. VII Междунар. научно-техн. конф. : сборник научных трудов / ред. Белянин А. Ф., Панфилов Ю. В., Самойлович М. И. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2015. - С. 261-263.

Панфилова Е. В., Вагулина Е. В.
   О возможности исследования эмиссионных характеристик наноструктур на основе опаловых матриц методами сканирующей туннельной микроскопии / Панфилова Е. В., Вагулина Е. В. // Инженерно-физические проблемы новой техники : сборник материалов 11-го Всеросийского совещания-семинара, МГТУ им. Н. Э. Баумана, 15-17 апреля 2014 г. / МГТУ им. Н. Э. Баумана, МГУ им. М. В. Ломоносова, РАН, Ин-т проблем машиноведения, Ин-т машиноведения им. А. А. Благонравова, Военно-воздушная акад. им. Н. Е. Жуковского и Ю. А. Гагарина, Ин-т общей физики им. А. М. Прохорова, Моск. авиационный ин-т (МАИ). - М., 2014. - С. 71-73.

Панфилова Е. В.
   Исследование планарных опаловых структур методами сканирующей туннельной микроскопии / Панфилова Е. В. // Вакуумная наука и техника : материалы XXI научно-техн. конф. с участием зарубежных специалистов, октябрь 2014 г. / ред. Быков Д. В. ; НИИ микроэлектроники и информационно-измерительной техники (МИЭМ НИУ ВШЭ). - М., 2014. - С. 122-124.

Панфилова Е. В., Вострикова А. В., Вагулина Е. В.
   Статистический анализ и моделирование процесса вакуумного осаждения материалов на поверхность опаловой пленки / Панфилова Е. В., Вострикова А. В., Вагулина Е. В. // Высокие технологии в промышленности России (материалы и устройства функциональной электроники и микрофотоники) : материалы 19 Международной научно-технической конф., Москва, 11-13 сентября 2014 г. Тонкие пленки в электронике : материалы 26 Международной научно-технической конф., Москва, 11-13 сентября 2014 г. Наноинженерия : материалы 6 Международной нучно-технической конф., Москва, 11-13 сентября 2014 г. / [к сб.в целом] МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2014. - С. 315-319.

Вагулина Е. В., Сырицкий А. Б., Панфилова Е. В.
   Результаты исследования планарных опаловых структур методами сканирующей туннельной микроскопии / Вагулина Е. В., Сырицкий А. Б., Панфилова Е. В. // Высокие технологии в промышленности России (материалы и устройства функциональной электроники и микрофотоники) : материалы 19 Международной научно-технической конф., Москва, 11-13 сентября 2014 г. Тонкие пленки в электронике : материалы 26 Международной научно-технической конф., Москва, 11-13 сентября 2014 г. Наноинженерия : материалы 6 Международной нучно-технической конф., Москва, 11-13 сентября 2014 г. / [к сб.в целом] МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2014. - С. 320-325.

   Исследование процесса нанесения тонких пленок на наноструктурированную поверхность / Беседина К. Н., Вострикова А. В., Двухшерстова О. О., Калинин В. Н., Панфилова Е. В. // Наноинженерия. - 2013. - № 12. - С. 36-39.

   Индивидуальный лабораторный практикум : учебно-методическое пособие / МГТУ им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский ун-т). - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2023.
   Ч. 1 : Литературный обзор / Беликов А. И., Моисеев К. М., Панфилов Ю. В. [и др.] ; ред. Панфилов Ю. В. - 2023. - 61 с. - Библиогр.: с. 55. - ISBN 978-5-7038-6150-9.

Панфилова Е. В.
   Организация контроля и моделирование технологического процесса : практикум / Панфилова Е. В. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский ун-т). - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2020. - 35 с. - Библиогр.: с. 18. - ISBN 978-5-7038-5469-3.