Панфилова Екатерина Вадимовна

Медведева О. М., Панфилова Е. В.
   Получение и исследование коллоидных пленок с контролируемой плотностью упаковки методом центрифугирования / Медведева О. М., Панфилова Е. В. // Необратимые процессы в природе и технике : сборник статей 13-ой Всероссийской конференции, Москва, 28-30 января 2025 года : в 2 т. / МГТУ им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский университет). - 2025. - Т. 1. - С. 160-163.

   Особенности расчета и исследование оптических характеристик градиентного фотонного кристалла / Егорова Е. Н., Панфилова Е. В., Азарнин И. О., Кузикова М. С. // Письма в "Журнал технической физики". - 2025. - Т. 51, № 7-8. - С. 11-15.

   Лабораторный комплекс для получения коллоидных фотонно-кристаллических структур. Часть 1 / Панфилова Е. В., Дюбанов В. А., Ибрагимов А. Р., Шрамко Д. Ю. // Наноиндустрия. - 2024. - Т. 17, № 3-4. - С. 190-198.

   Лабораторный комплекс для получения коллоидных фотонно-кристаллических структур. Часть 2 / Панфилова Е. В., Дюбанов В. А., Ибрагимов А. Р., Шрамко Д. Ю. // Наноиндустрия. - 2024. - № 5. - С. 268-275.

Панфилова Е. В., Ибрагимов А. Р., Францышин Д. В.
   Нейросетевая модель для корректировки процесса исследования коллоидных нано- и микроструктур методом атомно-силовой микроскопии / Панфилова Е. В., Ибрагимов А. Р., Францышин Д. В. // Наноиндустрия. - 2024. - Т. 17, № 6. - С. 346-354.

Жбейли Б., Панфилова Е. В.
   Обзор и анализ актуального опыта использования нейронных сетей для построения моделей процессов осаждения тонких пленок = Review And Analysis of Current Experience in Using Neural Networks to Build Models Of Thin Film Deposition Processes / Жбейли Б., Панфилова Е. В. // Наука, технологии и бизнес : материалы 6-ой Межвузовской конференции аспирантов, соискателей и молодых учёных, Москва, 16-18 апреля 2024 года / МГТУ им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский университет). - М., 2024. - С. 181-186.

Дюбанов В. А., Панфилова Е. В.
   Моделирование и тепловой анализ коллоидной системы в процессе осаждения фотонно-кристаллических пленок / Дюбанов В. А., Панфилова Е. В. // Технологии разработки и отладки сложных технических систем : материалы 9-ой Всероссийской научно-практическойя конференции, Москва, 5-6 апреля 2023 года : в 2 т. / МГТУ им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский университет), Центр инженерных технологий и моделирования "Экспонента". - 2024. - Т. 1. - С. 173-179.

Панфилова Е. В.
   Применение алгоритмов искусственного интеллекта и нейросетевого моделирования технических систем в научно-исследовательской работе студентов / Панфилова Е. В. // Ключевые тренды развития искусственного интеллекта: наука и технологии : сборник трудов международной ИТ-конференция, Москва, 21 апреля 2023 г. / МГТУ им. Н. Э. Баумана (Национальный исследовательский университет), Научно-учебный комплекс "Информатика и системы управления" МГТУ им. Н. Э. Баумана, Научно-образовательный центр "Технологии искусственного интеллекта" МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2023. - С. 105-110.

Жбейли Батуль, Панфилова Е. В., Яковлева Е. А.
   Разработка нейронной сети для анализа данных металлооксидных газовых сенсоров в системе искусственного носа / Жбейли Батуль, Панфилова Е. В., Яковлева Е. А. // Наука, технологии и бизнес : сборник материалов 5-ой Межвузовской конференции аспирантов, соискателей и молодых учёных, Москва, 18-19 апреля 2023 г. / МГТУ им. Н. Э. Баумана (Национальный исследовательский университет). - М., 2023. - С. 109-119.

Панфилова Е. В.
   Ориентированный на получение практических навыков онлайн-курс магистерской подготовки «Нейросетевое моделирование сложных технических систем» / Панфилова Е. В. // Цифровые технологии в инженерном образовании: новые тренды и опыт внедрения : международный форум, Москва, 28-29 нояб. 2019 г. : сборник трудов / МГТУ им. Н. Э. Баумана (Национальный исследовательский университет). - М., 2020. - С. 333-335.

Ибрагимов А. Р., Мозер К. В., Панфилова Е. В.
   Исследование фотоннокристаллических свойств пленок, образованных из микросфер полистирола на вытянутых из коллоидного раствора подложках / Ибрагимов А. Р., Мозер К. В., Панфилова Е. В. // Необратимые процессы в природе и технике : труды 10-той Всерос. конф., Москва, 27-29 января 2019 : в 3 ч. / РАН, МГТУ им. Н. Э. Баумана, Физический институт им. П. Н. Лебедева. - 2019. - Ч. 3. - С. 77-79.

Жуков Р. М., Панфилова Е. В., Шрамко Д. Ю.
   Исследование влияния состава реакционной смеси при гидролизе тетраэтоксисилана на свойства коллоидного раствора и самособирающихся пленок кремнезема / Жуков Р. М., Панфилова Е. В., Шрамко Д. Ю. // Необратимые процессы в природе и технике : труды 10-той Всерос. конф., Москва, 27-29 января 2019 : в 3 ч. / РАН, МГТУ им. Н. Э. Баумана, Физический институт им. П. Н. Лебедева. - 2019. - Ч. 1. - С. 234-236.

Колесник В. Л., Панфилова Е. В.
   Применение стандартизированных методик при использовании атомно-силовой микроскопии в учебном процессе / Колесник В. Л., Панфилова Е. В. // Состояние и проблемы измерений : сборник материалов XIV Всерос. научно-техн. конф., МГТУ им. Н. Э. Баумана, 18-20 апреля 2017 г. / МГТУ им. Н. Э. Баумана, МГУ им. М. В. Ломоносова, Институт прикладной математики им. М. В. Келдыша РАН, Институт проблем машиностроения РАН, Институт машиноведения им. А. А. Благонравова РАН. - М., 2017. - С. 319-322.

Колесник В. Л., Доброносова А. А., Панфилова Е. В.
   Методика исследования шероховатости опаловых наноструктур на основе стандарта ГОСТ Р 8. 700-2010 / Колесник В. Л., Доброносова А. А., Панфилова Е. В. // Инженерно-физические проблемы новой техники : сборник материалов 12-го Всеросийского совещания-семинара, МГТУ им. Н. Э. Баумана, 20-22 апреля 2016г. / МГТУ им. Н. Э. Баумана, МГУ им. М. В. Ломоносова, Институт проблем машиностроения, Институт машиноведения им. А. А. Благонравова РАН, Моск. авиационный ин-т. - М., 2016. - С. 124-127.

Вагулина Е. В., Сырицкий А. Б., Панфилова Е. В.
   Результаты исследования планарных опаловых структур методами сканирующей туннельной микроскопии / Вагулина Е. В., Сырицкий А. Б., Панфилова Е. В. // Наноинженерия. - 2015. - № 1. - С. 3-6.

Вагулина Е. В., Сырицкий А. Б., Панфилова Е. В.
   Измерения параметров топографии поверхности и вольт-амперных характеристик тонкопленочных систем металл/синтетический опал/металл методом туннельной микроскопии / Вагулина Е. В., Сырицкий А. Б., Панфилова Е. В. // Состояние и проблемы измерений : сборник материалов XIII Всерос. научно-техн. конф., МГТУ им. Н. Э. Баумана, 22-24 апреля 2015г / МГТУ им. Н. Э. Баумана, МГУ им. М. В. Ломоносова, Институт проблем машиноведения, Институт проблем машиностроения, Институт машиноведения им. А. А. Благонравова РАН, Институт Общей физики им. А. М. Прохорова РАН, Моск. авиационный ин-т. - М., 2015. - С. 76-79.

Вагулина Е. В., Панфилова Е. В., Сырицкий А. Б.
   Исследование многослойных структур на основе опаловых пленой методом сканирующей туннельной микроскопии / Вагулина Е. В., Панфилова Е. В., Сырицкий А. Б. // Высокие технологии в промышленности России (материалы и устройства функциональной электроники и микрофотоники). XX Междунар. научно-техн. конф. Тонкие пленки в электронике. XXVII Междунар. симпозиума. Наноинженерия. VII Междунар. научно-техн. конф. : сборник научных трудов / ред. Белянин А. Ф., Панфилов Ю. В., Самойлович М. И. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2015. - С. 252-256.

Доброносова А. А., Колесник В. Л., Панфилова Е. В.
   Использование стандартизованных методик при исследовании опаловых структур / Доброносова А. А., Колесник В. Л., Панфилова Е. В. // Высокие технологии в промышленности России (материалы и устройства функциональной электроники и микрофотоники). XX Междунар. научно-техн. конф. Тонкие пленки в электронике. XXVII Междунар. симпозиума. Наноинженерия. VII Междунар. научно-техн. конф. : сборник научных трудов / ред. Белянин А. Ф., Панфилов Ю. В., Самойлович М. И. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2015. - С. 257-260.

Ашурбекова М. И., Панфилова Е. В.
   Формирование опаловых структур в условиях электрофореза / Ашурбекова М. И., Панфилова Е. В. // Высокие технологии в промышленности России (материалы и устройства функциональной электроники и микрофотоники). XX Междунар. научно-техн. конф. Тонкие пленки в электронике. XXVII Междунар. симпозиума. Наноинженерия. VII Междунар. научно-техн. конф. : сборник научных трудов / ред. Белянин А. Ф., Панфилов Ю. В., Самойлович М. И. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2015. - С. 261-263.

Панфилова Е. В., Вагулина Е. В.
   О возможности исследования эмиссионных характеристик наноструктур на основе опаловых матриц методами сканирующей туннельной микроскопии / Панфилова Е. В., Вагулина Е. В. // Инженерно-физические проблемы новой техники : сборник материалов 11-го Всеросийского совещания-семинара, МГТУ им. Н. Э. Баумана, 15-17 апреля 2014 г. / МГТУ им. Н. Э. Баумана, МГУ им. М. В. Ломоносова, Российская академия наук, Институт проблем машиноведения, Институт машиноведения им. А. А. Благонравова, Военно-воздушная акад. им. Н. Е. Жуковского и Ю. А. Гагарина, Институт общей физики им. А. М. Прохорова, Моск. авиационный ин-т (МАИ). - М., 2014. - С. 71-73.

Панфилова Е. В.
   Исследование планарных опаловых структур методами сканирующей туннельной микроскопии / Панфилова Е. В. // Вакуумная наука и техника : материалы XXI научно-техн. конф. с участием зарубежных специалистов, октябрь 2014 г. / ред. Быков Д. В. ; НИИ микроэлектроники и информационно-измерительной техники (МИЭМ НИУ ВШЭ). - М., 2014. - С. 122-124.

Панфилова Е. В., Вострикова А. В., Вагулина Е. В.
   Статистический анализ и моделирование процесса вакуумного осаждения материалов на поверхность опаловой пленки / Панфилова Е. В., Вострикова А. В., Вагулина Е. В. // Высокие технологии в промышленности России (материалы и устройства функциональной электроники и микрофотоники) : материалы 19 Международной научно-технической конф., Москва, 11-13 сентября 2014 г. Тонкие пленки в электронике : материалы 26 Международной научно-технической конф., Москва, 11-13 сентября 2014 г. Наноинженерия : материалы 6 Международной нучно-технической конф., Москва, 11-13 сентября 2014 г. / [к сб.в целом] МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2014. - С. 315-319.

Вагулина Е. В., Сырицкий А. Б., Панфилова Е. В.
   Результаты исследования планарных опаловых структур методами сканирующей туннельной микроскопии / Вагулина Е. В., Сырицкий А. Б., Панфилова Е. В. // Высокие технологии в промышленности России (материалы и устройства функциональной электроники и микрофотоники) : материалы 19 Международной научно-технической конф., Москва, 11-13 сентября 2014 г. Тонкие пленки в электронике : материалы 26 Международной научно-технической конф., Москва, 11-13 сентября 2014 г. Наноинженерия : материалы 6 Международной нучно-технической конф., Москва, 11-13 сентября 2014 г. / [к сб.в целом] МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2014. - С. 320-325.

   Исследование процесса нанесения тонких пленок на наноструктурированную поверхность / Беседина К. Н., Вострикова А. В., Двухшерстова О. О., Калинин В. Н., Панфилова Е. В. // Наноинженерия. - 2013. - № 12. - С. 36-39.

   Индивидуальный лабораторный практикум : учебно-методическое пособие / МГТУ им. Н. Э. Баумана (Национальный исследовательский университет). - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2023.
   Ч. 1 : Литературный обзор / Беликов А. И., Моисеев К. М., Панфилов Ю. В. [и др.] ; ред. Панфилов Ю. В. - 2023. - 61 с. - Библиогр.: с. 55. - ISBN 978-5-7038-6150-9.

Панфилова Е. В.
   Организация контроля и моделирование технологического процесса : практикум / Панфилова Е. В. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана (Национальный исследовательский университет). - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2020. - 35 с. - Библиогр.: с. 18. - ISBN 978-5-7038-5469-3.