Герб МГТУ им. Н.Э. БауманаНаучно-техническая библиотека МГТУ им. Н.Э. Баумана

Подробное описание документа

   Статья

Панфилкин А. М.
   Метод автоматического отслеживания развития технологических областей на основе сопоставления патентных классификаторов / Панфилкин А. М. // Управление качеством инженерного образования: перспективы искусственного интеллекта : материалы 3-ей Международной конференции, посвящённой 70-летию кафедры ИУ6, Москва, 30 октября-2 ноября 2023 года / МГТУ им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский университет). - М., 2024. - С. 95-98.

В данной работе предлагается метод автоматического отслеживания развития технологических областей на основе сопоставления патентных классификаторов. Рассмотрена возможность использования иерархических классификаторов для классификации патентов. Представлен метод определения изменений в технологических областях на основе изменения точности классификатора. Показано, что с помощью изменения точности классификации и статистического анализа текста можно определить развитие технологических областей. Предложенный метод можно применять в качестве инструмента для мониторинга технологического развития и выявления новых технологических трендов на основе патентной информации.
Ключевые слова: анализ текстов, классификация, машинное обучение, патентный классификатор, прогнозирование, технологическая эволюция

004.8 Искусственный интеллект

Статья опубликована в следующих изданиях

с. 95-98
   Управление качеством инженерного образования: перспективы искусственного интеллекта : материалы 3-ей Международной конференции, посвящённой 70-летию кафедры ИУ6, Москва, 30 октября-2 ноября 2023 года / МГТУ им. Н. Э. Баумана (национальный исследовательский университет). - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2024. - 205 с. : ил. - Библиогр. в конце статей. - ISBN 978-5-7038-6433-3.