Личный кабинет
Подробное описание документа
Панфилова Е. В.
Применение методов сканирующей зондовой микроскопии в исследовании опаловых наноструктур / Панфилова Е. В., Сырицкий А. Б., Доброносова А. А. - DOI 10.18698/2308-6033-2018-1-1721 // Инженерный журнал: наука и инновации. - 2018. - № 1. -
Скачать документ
Представлены результаты исследования процесса формирования многослойных структур на основе опаловых пленок на сканирующем зондовом микроскопе Solver P-47 посредством атомно-силовой и туннельной микроскопии и токовой спектроскопии. Показано, что методы туннельной микроскопии пригодны для исследования слоистых структур хром - опал - золото - углерод. Приведены изображения поверхности и вольт-амперные характеристики, полученные по мере формирования структур по слоям. Установлено, что формирование пленочных структур на поверхности опаловых матриц начинается с формирования "островков" на вершинах сфер диоксида кремния. Выявлено, что нанесение углеродных пленок на поверхность структуры хром - опал - золото приводит к увеличению туннельных токов в зазоре зонд - образец. Представленные результаты могут быть использованы при разработке технологии формирования разнообразных слоистых структур на поверхности опаловых матриц, в частности, в производстве устройств фотоники, сенсорики и эмиссионных устройств.
Статья опубликована в следующих изданиях
№ 1. - 2018.
