Подробное описание документа
Нахмансон М. С.
Диагностика состава материалов рентгенодифракционными и спектральными методами / Нахмансон М. С., Фекличев В. Г. - Л. : Машиностроение, Ленинградское отделение, 1990. - 357 с. : рис., табл., граф. - Библиогр.:
539.26 Рентгеноструктурный анализ. Исследование сверхтонкой структуры вещества при помощи дифракции рентгеновских лучей3 экз.![]()
Вы можете получить данный документ в одном из следующих отделов
- Абонемент старших курсов, ГУК, ауд. 213
- Преподавательский абонемент ауд.313, ГУК, ауд. 313
- Читальный зал ауд.313, ГУК, ауд. 313