Подробное описание документа

   Основы аналитической электронной микроскопии / ред. Грен Дж. Дж., Гольдштейн Дж. И., Джой Д. К., Ромиг А. Д. ; ред. пер. с англ. Усиков М. П. - М. : Металлургия, 1990. - 583 с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 5-229-00375-5.

УДК

620.187 Электронно-микроскопические методы исследования

Предметная рубрика

• Микроскопия электронная

Общее кол-во в фондах

3 экз.

Заказать на абонемент

Заказать в читальный зал

Заявка на закупку

1. Абонемент старших курсов, ГУК, ауд. 213
2. Преподавательский абонемент ауд.313, ГУК, ауд. 313
3. Читальный зал ауд.313, ГУК, ауд. 313