Расширенный поиск

Вагулина Е. В., Сырицкий А. Б., Панфилова Е. В.
   Результаты исследования планарных опаловых структур методами сканирующей туннельной микроскопии / Вагулина Е. В., Сырицкий А. Б., Панфилова Е. В. // Наноинженерия. - 2015. - № 1. - С. 3-6.

Дедков Г. В., Тегаев Р. И., Дедкова Е. Г.
   Контактная силовая спектроскопия проводящих и непроводящих образцов в атмосферных условиях и в водной среде / Дедков Г. В., Тегаев Р. И., Дедкова Е. Г. // Нано- и микросистемная техника. - 2007. - № 2. - С. 8-15.

   Основы аналитической электронной микроскопии / ред. Грена Дж. ; пер. С англ. под ред. М. П. Усикова. - М. : Металлургия, 1990. - 583 с.

   Применение концепции мультифракталов при анализе изображений структур металлов после горячей деформации сжатием / Барахтин Б. К., Варгасов Н. Р., Лебедева Н. В., Рыбин В. В. // Металловедение и термическая обработка металлов. - 2007. - № 3. - С. 35-41.

   Физические аспекты взаимодействий зонд - поверхность в сканирующей зондовой микроскопии. Часть 1. // Нано- и микросистемная техника. - 2006. - № 8. - С. 2-12.