Подробное описание документа

Красников Г. Я., Зайцев Н. А.
   Физико-технологические основы обеспечения качества СБИС : монография / Красников Г. Я., Зайцев Н. А. - М. : МИКРОН-ПРИНТ, 1999. - ISBN 5-93497-001-1.
   Ч. 1. - 1999. - 226 с. : ил. - Библиогр.: с. 9, в конце глав.

УДК

621.3.049.77 Микроэлектроника. Интегральные схемы

Предметные рубрики

• Интегральные схемы большие

Общее кол-во в фондах

1 экз.

1. Преподавательский абонемент ауд.313, ГУК, ауд. 313
2. Читальный зал ауд.313, ГУК, ауд. 313