Личный кабинет
60 записей
Смирнов К. К.
Автоматизация проектирования функциональных тестов для технологической подготовки производства интегральных микросхем : дис... ктн : 05. 13. 12 / Смирнов К. К. ; Московский авиационный ин-т (нац. исслед. ун-т). - М., 2021. - 181 л. : ил. - Библиогр.:л. 168-174 .
Автоматизация проектирования функциональных тестов для технологической подготовки производства интегральных микросхем : дис... ктн : 05. 13. 12 / Смирнов К. К. ; Московский авиационный ин-т (нац. исслед. ун-т). - М., 2021. - 181 л. : ил. - Библиогр.:
1 экз.
Смирнов К. К.
Автоматизация проектирования функциональных тестов для технологической подготовки производства интегральных микросхем : автореф. дис... ктн : 05. 13. 12 / Смирнов К. К. ; Московский авиационный ин-т (нац. исслед. ун-т). - М., 2021. - 14 с. : ил.
Автоматизация проектирования функциональных тестов для технологической подготовки производства интегральных микросхем : автореф. дис... ктн : 05. 13. 12 / Смирнов К. К. ; Московский авиационный ин-т (нац. исслед. ун-т). - М., 2021. - 14 с. : ил.
2 экз.
Систолические структуры / ред. Мур У., Маккейб Э., Уркхарт Р. ; пер. с англ. Аксенов В. П., Долгушев С. А., Донианц В. Н., Турута Е. Н. ; ред. пер. с англ. Турута Е. Н. - М. : Радио и связь, 1993. - 412 с. : ил. - Библиогр. в конце параграфов . - ISBN 5-256-00884-6 .
1 экз.
Программируемые логические ИМС на КМОП-структурах и их применение / Мальцев П. П., Гарбузов Н. И., Шарапов А. П., Кнышев Д. А. - М. : Энергоатомиздат, 1998. - 157 с. : ил. - (Зарубежные интегральные микросхемы). - Библиогр.: с. 156 . - ISBN 5-283-01678-1 .
2 экз.
Диссертация
Булыгина Е. В.
Повышение выхода годных СБИС путем удаления привнесенных микрочастиц в вакууме : 05. 27. 07 : дис... ктн / Булыгина Е. В. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1997. - 182 л. - Библиогр.:л. 174-180 .
Повышение выхода годных СБИС путем удаления привнесенных микрочастиц в вакууме : 05. 27. 07 : дис... ктн / Булыгина Е. В. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1997. - 182 л. - Библиогр.:
1 экз.
Красников Г. Я., Зайцев Н. А.
Физико-технологические основы обеспечения качества СБИС : монография / Красников Г. Я., Зайцев Н. А. - М. : МИКРОН-ПРИНТ, 1999. -ISBN 5-93497-001-1 .
Ч. 1. - 1999. - 226 с. : ил. - Библиогр.:с. 9, в конце глав .
Физико-технологические основы обеспечения качества СБИС : монография / Красников Г. Я., Зайцев Н. А. - М. : МИКРОН-ПРИНТ, 1999. -
Ч. 1. - 1999. - 226 с. : ил. - Библиогр.:
1 экз.
Красников Г. Я., Зайцев Н. А.
Физико-технологические основы обеспечения качества СБИС : монография / Красников Г. Я., Зайцев Н. А. - М. : МИКРОН-ПРИНТ, 1999. -ISBN 5-93497-001-1 .
Ч. 2. - 1999. - 216 с. : ил. - Библиогр.в конце глав .
Физико-технологические основы обеспечения качества СБИС : монография / Красников Г. Я., Зайцев Н. А. - М. : МИКРОН-ПРИНТ, 1999. -
Ч. 2. - 1999. - 216 с. : ил. - Библиогр.
1 экз.
Грушвицкий Р. И., Мурсаев А. Х., Угрюмов Е. П.
Проектирование систем на микросхемах программируемой логики / Грушвицкий Р. И., Мурсаев А. Х., Угрюмов Е. П. - СПб. : БХВ-Петербург, 2002. - 606 с. : ил. - (Учебное пособие). - Библиогр.:с. 597-600 . - ISBN 5-94157-002-3 .
Проектирование систем на микросхемах программируемой логики / Грушвицкий Р. И., Мурсаев А. Х., Угрюмов Е. П. - СПб. : БХВ-Петербург, 2002. - 606 с. : ил. - (Учебное пособие). - Библиогр.:
2 экз.
Немудров В., Мартин Г.
Системы-на-кристалле. Проектирование и развитие / Немудров В., Мартин Г. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2004. - 212 с. : ил. - (Мир электроники). - Библиогр.в конце глав . - ISBN 5-94836-029-6 .
Системы-на-кристалле. Проектирование и развитие / Немудров В., Мартин Г. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2004. - 212 с. : ил. - (Мир электроники). - Библиогр.
2 экз.
Автореферат диссертации
Булыгина Е. В.
Повышение выхода годных СБИС путем удаления привнесенных микрочастиц в вакууме : 05. 27. 07 : автореф. дис... ктн / Булыгина Е. В. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1997. - 16 с.
Повышение выхода годных СБИС путем удаления привнесенных микрочастиц в вакууме : 05. 27. 07 : автореф. дис... ктн / Булыгина Е. В. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 1997. - 16 с.
1 экз.
