Столяров Александр Алексеевич, д.т.н., проф.
Тип публикации | Авторы | Заглавие | Издание, год, номер, страницы |
---|---|---|---|
Материал конференции |
Andreev D. V. МГТУ
Maslovsky V. M. Andreev V. V. МГТУ Stolyarov A. A. МГТУ |
Modification of Bounded J-Ramp Method to monitor reliability and charge degradation of gate dielectric of MIS devices |
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
2022
.-
Vol. 12157
.- Art.no 121571M
DOI: 10.1117/12.2623812
|
Статья в журнале |
Andreev D. V. МГТУ
Maslovsky V. M. Andreev V. V. МГТУ Stolyarov A. A. МГТУ |
Modified Ramped Current Stress Technique for Monitoring Thin Dielectrics Reliability and Charge Degradation | Physica Status Solidi (A) Applications and Materials Science |
Статья в журнале |
Andreev D. V. МГТУ
Bondarenko G. G. Andreev V. V. МГТУ Stolyarov A. A. МГТУ |
Increasing the Charge Stability of Gate Dielectric Films of MIS Structures by Doping Them with Phosphorus | Inorganic Materials: Applied Research |
Материал конференции |
Andreev D. V. МГТУ
Bondarenko G. G. Andreev V. V. МГТУ Stolyarov A. A. МГТУ |
Modeling of charge effects in dielectric films of radiation MOS sensors | Journal of Physics: Conference Series |
Статья в журнале |
Андреев Дмитрий Владимирович МГТУ
Бондаренко Г. Г. Андреев Владимир Викторович МГТУ Масловский В. М. Столяров Александр Алексеевич МГТУ |
Зарядовые явления в диэлектрических пленках МДП-структур при одновременном воздействии радиационных излучений и сильнополевой инжекции электронов |
Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования
2020
.-
№ 3
.-
С.
53 - 57
|
Статья в журнале |
Андреев Дмитрий Владимирович МГТУ
Бондаренко Г. Г. Андреев Владимир Викторович МГТУ Столяров Александр Алексеевич МГТУ |
Повышение зарядовой стабильности подзатворного диэлектрика МДП-структур методом их легирования фосфором |
Перспективные материалы
2020
.-
№ 7
.-
С.
68 - 74
|
Статья в журнале |
Бабкин С. И.
Волков С. И. Глушко Андрей Александрович МГТУ Морозов С. А. Новоселов А. С. Столяров Александр Алексеевич МГТУ |
Высоковольтные LDMOS транзисторы на КНИ структуре для экстремальной электроники | Микроэлектроника |
Статья в журнале |
Andreev D. V. МГТУ
Bondarenko G. G. Andreev V. V. МГТУ Maslovsky V. M. Stolyarov A. A. МГТУ |
Charge Effects in the Dielectric Films of MIS Structures under the Concurrent Influence of Radiation and High-Field Electron Injection | Journal of Surface Investigation |
Материал конференции |
Andreev D. V. МГТУ
Maslovsky V. M. Andreev V. V. МГТУ Stolyarov A. A. МГТУ |
Study of charge processes in gate dielectrics of MOS structures under concurrent influence of high-field tunnel injection of electrons and ionization radiation |
AIP Conference Proceedings
2020
.-
Vol. 2308
.- Art.no 040004
DOI: 10.1063/5.0033553
|
Статья в журнале |
Andreev D. V. МГТУ
Bondarenko G. G. Andreev V. V. МГТУ Stolyarov A. A. МГТУ |
Use of high-field electron injection into dielectrics to enhance functional capabilities of radiation MOS sensors | Sensors |
Статья в журнале |
Andreev V. V. МГТУ
Bondarenko G. G. Andreev D. V. МГТУ Stolyarov A. A. МГТУ |
Use of MIS Sensors of Radiation in High-Field Electron Injection Modes | Journal of Contemporary Physics |
Статья в журнале |
Андреев Владимир Викторович МГТУ
Вовченко О. Н. МГТУ Столяров Александр Алексеевич МГТУ |
Исследование и оптимизация технологического процесса получения тонкопленочного МДП-конденсатора на основе пленок диоксида и нитрида кремния для интегральных микросхем |
Электронный журнал: наука, техника и образование
2019
.-
№ СВ1 (25)
.-
С.
79 - 86
|
Статья в журнале |
Andreev D. V. МГТУ
Bondarenko G. G. Andreev V. V. МГТУ Maslovsky V. M. Stolyarov A. A. МГТУ |
Influence of temperature on highfield injection modification of MIS structures with thermal SiO2 films doped with phosphorus | High Temperature Material Processes |
Материал конференции |
Andreev D. V. МГТУ
Bondarenko G. G. Andreev V. V. МГТУ Maslovsky V. M. Stolyarov A. A. МГТУ |
Modification of MIS devices by radio-frequency plasma treatment | Acta Physica Polonica A |
Материал конференции |
Andreev D. V. МГТУ
Bondarenko G. G. Andreev V. V. МГТУ Stolyarov A. A. МГТУ |
Simulation of charge processes in dielectric films of MIS structures at simultaneous influence by ionization and high-field injection of electrons |
Procedia Manufacturing
2019
.-
Vol. 37
.-
С.
279 - 285
|
Материал конференции |
Andreev D. V. МГТУ
Stolyarov A. A. МГТУ Andreev V. V. МГТУ Tsarkov A. V. МГТУ |
Study of irreversible degradation processes in gate dielectric of MIS structures | Journal of Physics: Conference Series |
Материал конференции |
Andreev V. V. МГТУ
Maslovsky V. M. Andreev D. V. МГТУ Stolyarov A. A. МГТУ |
Charge effects in dielectric films of MIS structures being under high-field injection of electrons at ionizing radiation |
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
2019
.-
Vol. 11022
.- Art.no 1102207
DOI: 10.1117/12.2521985
|
Материал конференции |
Andreev D. V. МГТУ
Bondarenko G. G. Andreev V. V. МГТУ Stolyarov A. A. МГТУ |
Automatized setup for researching of MIS structures under high-field tunnel injection of electrons at stress and measurement conditions |
Moscow Workshop on Electronic and Networking Technologies, MWENT 2018 - Proceedings
2018
.- Art.no 8337209
|
Материал конференции |
Andreev D. V. МГТУ
Bondarenko G. G. Andreev V. V. МГТУ Stolyarov A. A. МГТУ |
Investigation of injection-And radiation-thermal processes in thin gate dielectric films of MIS structures |
Key Engineering Materials
2018
.-
Vol. 781 KEM
.-
С.
47 - 52
|
Статья в журнале |
Столяров Александр Алексеевич МГТУ
Максимов Игорь Владимирович МГТУ Андреев Владимир Викторович МГТУ |
Защита микросхем изготовленных по кмоп- технологии от воздействия статического электричества |
Электронный журнал: наука, техника и образование
2017
.-
№ СВ1 (11)
.-
С.
200 - 205
|
Статья в журнале |
Andreev D. V. МГТУ
Bondarenko G. G. Andreev V. V. МГТУ Maslovsky V. M. Stolyarov A. A. МГТУ |
Modification of MIS devices by irradiation and high-field electron injection treatments | Acta Physica Polonica A |
Статья в журнале |
Andreev D. V. МГТУ
Bondarenko G. G. Andreev V. V. МГТУ Maslovsky V. M. Stolyarov A. A. МГТУ |
Modification of MIS structures with thermal SiO2films by phosphorus diffusion | High Temperature Material Processes |
Статья в журнале |
Андреев Владимир Викторович МГТУ
Романов Андрей Владимирович МГТУ Столяров Александр Алексеевич МГТУ Ахмелкин Дмитрий Михайлович МГТУ |
Контроль радиационных излучений сенсорами на основе МДП-структур | Электромагнитные волны и электронные системы |
Статья в журнале |
Андреев Дмитрий Владимирович МГТУ
Бондаренко Г. Г. Столяров Александр Алексеевич МГТУ |
Модификация МДП-структур в процессе электронного облучения и инжекции электронов в сильных электрических полях |
Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования
2016
.-
№ 4
.-
С.
94 - 99
|
Статья в журнале |
Столяров Александр Алексеевич МГТУ
|
Научная школа Калужского филиала МГТУ им. Н.Э. Баумана «Физика материалов для электронных систем» | Электромагнитные волны и электронные системы |
Статья в журнале |
Andreev D. V. МГТУ
Bondarenko G. G. Stolyarov A. A. МГТУ |
Charge characteristics of MOS structure with thermal SiO2 films doped with phosphorus under high-field electron injection | Inorganic Materials: Applied Research |
Статья в журнале |
Andreev D. V. МГТУ
Bondarenko G. G. Stolyarov A. A. МГТУ |
Modification of MIS structures by electron irradiation and high-field electron injection | Journal of Surface Investigation |
Статья в журнале |
Андреев Дмитрий Владимирович МГТУ
Бондаренко Г. Г. Столяров Александр Алексеевич МГТУ |
Зарядовые характеристики МДП-структур с термическими пленками SiO2, легированными фосфором, при воздействии сильнополевой инжекцией электронов |
Перспективные материалы
2015
.-
№ 11
.-
С.
19 - 25
|
Статья в журнале |
Andreev V. V. МГТУ
Bondarenko G. G. Maslovsky V. M. Stolyarov A. A. МГТУ Andreev D. V. МГТУ |
Control current stress technique for the investigation of gate dielectrics of MIS devices | Physica Status Solidi (C) Current Topics in Solid State Physics |
Статья в журнале |
Andreev V. V. МГТУ
Bondarenko G. G. Maslovsky V. M. Stolyarov A. A. МГТУ Andreev D. V. МГТУ |
Modification and reduction of defects in thin gate dielectric of MIS devices by injection-thermal and irradiation treatments | Physica Status Solidi (C) Current Topics in Solid State Physics |
Статья в журнале |
Andreev V. V. МГТУ
Bondarenko G. G. Stolyarov A. A. МГТУ Akhmelkin D. M. МГТУ |
Modification of dielectric films in MIS structures using the injection-thermal treatment | Inorganic Materials: Applied Research |
Статья в журнале |
Andreev V. V. МГТУ
Bondarenko G. G. Maslovsky V. M. Stolyarov A. A. МГТУ |
Modification of MOS Devices by High-Field Electron Injection and Arc Plasma Jet Treatment | Acta Physica Polonica A |
Статья в журнале |
Андреев Владимир Викторович МГТУ
Масловский В. М. Сафонов А. Г. Столяров Александр Алексеевич МГТУ |
Модификация диэлектрических пленок МДП-приборов |
Электроника: наука, технология, бизнес
2014
.-
№ S (137)
.-
С.
169 - 176
|
Статья в журнале |
Андреев Владимир Викторович МГТУ
Бондаренко Г. Г. Столяров Александр Алексеевич МГТУ Ахмелкин Д. М. МГТУ |
Модификация диэлектрических пленок МДП-структур инжекционно-термической обработки |
Перспективные материалы
2014
.-
№ 12
.-
С.
25 - 31
|
Статья в журнале |
Андреев Владимир Викторович МГТУ
Столяров Александр Алексеевич МГТУ Соловьев И. В. МГТУ |
Установка измерения поглощенной дозы радиационного излучения на основе транзисторных сенсоров со структурой металл — диэлектрик — полупроводник |
Инженерный журнал: наука и инновации
2014
.-
№ 1(25)
|
Статья в журнале |
Andreev V. V. МГТУ
Bondarenko G. G. Stolyarov A. A. МГТУ Korotkov S. I МГТУ |
Injection modification of multilayer dielectric layers of metal-oxide-semiconductor structures at different temperatures | Inorganic Materials: Applied Research |
Статья в журнале |
Andreev V. V. МГТУ
Bondarenko G. G. Maslovsky V. M. Stolyarov A. A. МГТУ |
Modification of gate dielectric in MOS devices by injection-thermal and plasma treatments | Acta Physica Polonica A |
Статья в журнале |
Андреев Владимир Викторович МГТУ
Бондаренко Г. Г. Столяров Александр Алексеевич МГТУ Коротков С. И. МГТУ |
Инжекционная модификация многослойных диэлектрических слоев структурметалл – диэлектрик – полупроводник при различных температурах |
Перспективные материалы
2013
.-
№ 7
.-
С.
31 - 36
|
Статья в журнале |
Андреев Владимир Викторович МГТУ
Столяров Александр Алексеевич МГТУ Ахмелкин Д. М. МГТУ Романов А. В. МГТУ |
Сильнополевая инжекционная модификация наноразмерных диэлектрических пленок в МДП-приборах |
Инженерный журнал: наука и инновации
2013
.-
№ 6(18)
|
Статья в журнале |
Андреев Владимир Викторович МГТУ
Столяров Александр Алексеевич МГТУ Дмитриев В. Г. МГТУ Романов А. В. МГТУ |
Инжекционные методы контроля подзатворного диэлектрика МДП-ИМС |
Наукоемкие технологии
2012
.-
Т. 13
,
№ 10
.-
С.
20 - 28
|
Статья в журнале |
Андреев Владимир Викторович МГТУ
Столяров Александр Алексеевич МГТУ Васютин М. С. МГТУ Бондаренко Г. Г. |
Моделирование воздействия ионизирующих излучений на МДП структуры с наноразмерными диэлектрическими пленками |
Физика и химия обработки материалов
2011
.-
№ 5
.-
С.
5 - 9
|