Вагулина Елена Владимировна

Вагулина Е. В., Сырицкий А. Б., Панфилова Е. В.
   Измерения параметров топографии поверхности и вольт-амперных характеристик тонкопленочных систем металл/синтетический опал/металл методом туннельной микроскопии / Вагулина Е. В., Сырицкий А. Б., Панфилова Е. В. // Состояние и проблемы измерений : сборник материалов XIII Всерос. научно-техн. конф., МГТУ им. Н. Э. Баумана, 22-24 апреля 2015г / МГТУ им. Н. Э. Баумана, МГУ им. М. В. Ломоносова, Ин-т проблем машиноведения, Ин-т проблем машиностроения, Ин-т машиноведения им. А. А. Благонравова РАН, Ин-т физики РАН им. А. М. Прохорова, Моск. авиационный ин-т. - М., 2015. - С. 76-79.

Вагулина Е. В., Панфилова Е. В., Сырицкий А. Б.
   Исследование многослойных структур на основе опаловых пленой методом сканирующей туннельной микроскопии / Вагулина Е. В., Панфилова Е. В., Сырицкий А. Б. // Высокие технологии в промышленности России (материалы и устройства функциональной электроники и микрофотоники). XX Междунар. научно-техн. конф. Тонкие пленки в электронике. XXVII Междунар. симпозиума. Наноинженерия. VII Междунар. научно-техн. конф. : сборник научных трудов / ред. Белянин А. Ф., Панфилов Ю. В., Самойлович М. И. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2015. - С. 252-256.

Панфилова Е. В., Вострикова А. В., Вагулина Е. В.
   Статистический анализ и моделирование процесса вакуумного осаждения материалов на поверхность опаловой пленки / Панфилова Е. В., Вострикова А. В., Вагулина Е. В. // Высокие технологии в промышленности России (материалы и устройства функциональной электроники и микрофотоники) : материалы 19 Международной научно-технической конф., Москва, 11-13 сентября 2014 г. Тонкие пленки в электронике : материалы 26 Международной научно-технической конф., Москва, 11-13 сентября 2014 г. Наноинженерия : материалы 6 Международной нучно-технической конф., Москва, 11-13 сентября 2014 г. / [к сб.в целом] МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2014. - С. 315-319.

Вагулина Е. В., Сырицкий А. Б., Панфилова Е. В.
   Результаты исследования планарных опаловых структур методами сканирующей туннельной микроскопии / Вагулина Е. В., Сырицкий А. Б., Панфилова Е. В. // Высокие технологии в промышленности России (материалы и устройства функциональной электроники и микрофотоники) : материалы 19 Международной научно-технической конф., Москва, 11-13 сентября 2014 г. Тонкие пленки в электронике : материалы 26 Международной научно-технической конф., Москва, 11-13 сентября 2014 г. Наноинженерия : материалы 6 Международной нучно-технической конф., Москва, 11-13 сентября 2014 г. / [к сб.в целом] МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М., 2014. - С. 320-325.