Подробное описание документа

Статья

Вагулина Е. В., Сырицкий А. Б., Панфилова Е. В.
Измерения параметров топографии поверхности и вольт-амперных характеристик тонкопленочных систем металл/синтетический опал/металл методом туннельной микроскопии / Вагулина Е. В., Сырицкий А. Б., Панфилова Е. В. // Состояние и проблемы измерений : сборник материалов XIII Всерос. научно-техн. конф., МГТУ им. Н. Э. Баумана, 22-24 апреля 2015г / МГТУ им. Н. Э. Баумана, МГУ им. М. В. Ломоносова, Институт проблем машиноведения, Институт проблем машиностроения, Институт машиноведения им. А. А. Благонравова РАН, Институт Общей физики им. А. М. Прохорова РАН, Моск. авиационный ин-т. - М., 2015. - С. 76-79.

УДК
006.91 Метрология. Меры и веса в целом

Авторы МГТУ

Вагулина Елена Владимировна

Сырицкий Антони Борисович

Панфилова Екатерина Вадимовна

Статья опубликована в следующих изданиях

с. 76-79

Состояние и проблемы измерений : сборник материалов XIII Всерос. научно-техн. конф., МГТУ им. Н. Э. Баумана, 22-24 апреля 2015г / МГТУ им. Н. Э. Баумана, МГУ им. М. В. Ломоносова, Институт проблем машиноведения, Институт проблем машиностроения, Институт машиноведения им. А. А. Благонравова РАН, Институт Общей физики им. А. М. Прохорова РАН, Моск. авиационный ин-т. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2015. - 376 с. : ил. - Библиогр. в конце ст.

подробнее