Подробное описание документа

Статья

Вагулина Е. В., Сырицкий А. Б., Панфилова Е. В.
Измерения параметров топографии поверхности и вольт-амперных характеристик тонкопленочных систем металл/синтетический опал/металл методом туннельной микроскопии / Вагулина Е. В., Сырицкий А. Б., Панфилова Е. В. // Состояние и проблемы измерений : сборник материалов XIII Всерос. научно-техн. конф., МГТУ им. Н. Э. Баумана, 22-24 апреля 2015г / МГТУ им. Н. Э. Баумана, МГУ им. М. В. Ломоносова, Ин-т проблем машиноведения, Ин-т проблем машиностроения, Ин-т машиноведения им. А. А. Благонравова РАН, Ин-т физики РАН им. А. М. Прохорова, Моск. авиационный ин-т. - М., 2015. - С. 76-79.

УДК
006.91 Метрология. Меры и веса в целом

Авторы МГТУ

Вагулина Елена Владимировна

Сырицкий Антони Борисович

Панфилова Екатерина Вадимовна

Статья опубликована в следующих изданиях

с. 76-79

Состояние и проблемы измерений : сборник материалов XIII Всерос. научно-техн. конф., МГТУ им. Н. Э. Баумана, 22-24 апреля 2015г / МГТУ им. Н. Э. Баумана, МГУ им. М. В. Ломоносова, Ин-т проблем машиноведения, Ин-т проблем машиностроения, Ин-т машиноведения им. А. А. Благонравова РАН, Ин-т физики РАН им. А. М. Прохорова, Моск. авиационный ин-т. - М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2015. - 376 с. : ил. - Библиогр. в конце ст.

подробнее