Перчик Алексей Вячеславович

   Измерение распределения толщин многослойных пленочных структур методами спектральной рефлектометрии / Цепулин В. Г., Толстогузов В. Л., Карасик В. Е., Перчик А. В., Арефьев А. П. // Вестник МГТУ им. Н. Э. Баумана. Сер. Приборостроение. - 2016. - № 3. - С. 3-12.

   Метод измерения распределения толщин ITO-покрытий с помощью акустооптического видеоспектрометра / Перчик А. В., Толстогузов В. Л., Стасенко К. В., Цепулин В. Г. // Современные проблемы оптотехники : сборник статей / сост. Барышников Н. В. - М., 2013. - (Труды / МГТУ им. Н. Э. Баумана ; № 610). - С. 91-98.