Расширенный поиск

Дюков В. Г., Кудеяров Ю. А.
   Растровая оптическая микроскопия / Дюков В. Г., Кудеяров Ю. А. ; Московский физико-технический институт. - М. : Наука, 1992. - 206 с. : рис., табл. - (Современные физико-технические проблемы). - Библиогр.: с. 203-206. - ISBN 5-02-014374-X.

Дюков В. Г., Непийко С. А., Седов Н. Н.
   Электронная микроскопия локальных потенциалов / Дюков В. Г., Непийко С. А., Седов Н. Н. ; Академия наук Украинской ССР, Институт физики. - Киев : Наукова думка, 1991. - 198 с. : ил. - Библиогр.: с. 190-196. - ISBN 5-12-002339-8.

   Основы аналитической электронной микроскопии / ред. Грен Дж. Дж., Гольдштейн Дж. И., Джой Д. К., Ромиг А. Д. ; ред. пер. с англ. Усиков М. П. - М. : Металлургия, 1990. - 583 с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 5-229-00375-5.

   Электронная микроскопия тонких кристаллов / Хирш П., Хови А., Николсон Р. [и др.] ; ред. пер. с англ. Утевский Л. М. - М. : Мир, 1968. - 574 с. : ил. - Библиогр. в конце гл.

Ковалев А. И., Щербединский Г. В.
   Современные методы иследования поверхности металлов и сплавов : монография / Ковалев А. И., Щербединский Г. В. - М. : Металлургия, 1989. - 190 с. : рис., табл. - Библиогр.: с. 182-190. - ISBN 5-229-00444-4.

Синдо Д., Оикава Т.
   Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия : пер. с англ. / Синдо Д., Оикава Т. ; пер. Иванов С. А. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2006. - 249 с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 5-94836-064-4.

Эгертон Р. Ф.
   Физические принципы электронной микроскопии. Введение в просвечивающую, растровую и аналитическую электронную микроскопию. / Эгертон Р. Ф. ; пер. с англ. Иванов С. А. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2010. - 300 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 221-222. - ISBN 978-5-94836-254-0.

Фульц Б., Хау Дж. М.
   Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов / Фульц Б., Хау Дж. М. ; пер. с англ. Даниленко В. И. ; ред. пер. Мохов А. В. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2011. - 903 с. : ил. - (Мир физики и техники). - ISBN 978-5-94836-291-5.

Зевайль А., Томас Дж.
   Трехмерная электронная микроскопия в реальном времени : [учеб. пособие] / Зевайль А., Томас Дж. ; пер. с англ. Сухов А. В. - Долгопрудный : Интеллект, 2013. - 327 с. : ил. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-91559-102-7.

   Всесоюзная конференция по электронной микроскопии, десятая, Ташкент, 5 октября - 8 октября 1976 г. : тезисы докладов / Академия наук СССР, Научный совет по электронной микроскопии, Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова, Институт физики твёрдого тела, Академия наук Узбекской ССР, Министерство здравоохранения Узбекской ССР, Ташкентский медицинский институт, Институт биохимии, Институт ядерной физики, Институт электроники. - М., 1976.
   Т. 2. - 1976. - 401 с. : ил. - Библиогр. в конце статей.