Расширенный поиск

Дюков В. Г., Кудеяров Ю. А.
   Растровая оптическая микроскопия / Дюков В. Г., Кудеяров Ю. А. ; Московский физико-технический институт. - М. : Наука, 1992. - 206 с. : рис., табл. - (Современные физико-технические проблемы). - Библиогр.: с. 203-206. - ISBN 5-02-014374-X.

Дюков В. Г., Непийко С. А., Седов Н. Н.
   Электронная микроскопия локальных потенциалов / Дюков В. Г., Непийко С. А., Седов Н. Н. ; Академия наук Украинской ССР, Институт физики. - Киев : Наукова думка, 1991. - 198 с. : ил. - Библиогр.: с. 190-196. - ISBN 5-12-002339-8.

   Электронная микроскопия тонких кристаллов / Хирш П., Хови А., Николсон Р. [и др.] ; ред. пер. с англ. Утевский Л. М. - М. : Мир, 1968. - 574 с. : ил. - Библиогр. в конце гл.

Синдо Д., Оикава Т.
   Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия : пер. с англ. / Синдо Д., Оикава Т. ; пер. Иванов С. А. - М. : Техносфера, 2006. - 249 с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 5-94836-064-4.

Эгертон Р. Ф.
   Физические принципы электронной микроскопии. Введение в просвечивающую, растровую и аналитическую электронную микроскопию. / Эгертон Р. Ф. ; пер. с англ. Иванов С. А. - М. : Техносфера, 2010. - 300 с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 221-222. - ISBN 978-5-94836-254-0.

Фульц Б., Хау Дж. М.
   Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов / Фульц Б., Хау Дж. М. ; пер. с англ. Даниленко В. И. ; ред. пер. Мохов А. В. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2011. - 903 с. : ил. - (Мир физики и техники). - ISBN 978-5-94836-291-5.

Зевайль А., Томас Дж.
   Трехмерная электронная микроскопия в реальном времени : [учеб. пособие] / Зевайль А., Томас Дж. ; пер. с англ. Сухов А. В. - Долгопрудный : Интеллект, 2013. - 327 с. : ил. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-91559-102-7.

Комшин А. С., Обухов И. В., Сырицкий А. Б.
   Измерения параметров топографии поверхности при помощи сканирующего зондового микроскопа SOLVER P47 : метод. указания к лаб. работе по курсу "Физические основы измерений", "Квантовая метрология" / Комшин А. С., Обухов И. В., Сырицкий А. Б. ; МГТУ им. Н. Э. Баумана. - М. : Изд-во НИИ РЛ МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2015. - 36 с. : ил. - Библиогр.: с. 36.

   Проблемы линейных измерений микрообъектов в нанометровом и субмикронном диапазонах / Российская академия наук ; отв. ред. Раков А. В. - М. : Наука, 1995. - 162 с. - (Труды / Институт общей физики ; т. 49). - Библиогр. в конце статей. - ISBN 5-02-000828-1.

Валиев Р. З., Вергазов А. Н., Герцман В. Ю.
   Кристаллогеометрический анализ межкристаллитных границ в практике электронной микроскопии : монография / Валиев Р. З., Вергазов А. Н., Герцман В. Ю. ; Академия наук СССР, Институт проблем сверхпластичности металлов. - М. : Наука, 1991. - 230 с. : рис., табл., граф. - Библиогр.: с. 221-225. - ISBN 5-02-000195-3.